モノクロメーター: SI(111) MONOCHROMATOR / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.978946 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.55→40.18 Å / Num. obs: 33089 / % possible obs: 99.6 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 3.7 % / Biso Wilson estimate: 16.03 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.06 / Net I/σ(I): 11.53
反射 シェル
解像度: 1.55→1.59 Å / 冗長度: 3.2 % / Rmerge(I) obs: 0.34 / Mean I/σ(I) obs: 2.91 / % possible all: 99.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE)
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
SHARP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 1.55→40.185 Å / SU ML: 0.17 / σ(F): 2 / 位相誤差: 21.61 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: RESIDUES 128 AND 129 WERE NOT MODELLED DUE TO MISSING DENSITY
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2247
1655
5 %
Rwork
0.1791
-
-
obs
0.1813
33086
99.68 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 40.321 Å2 / ksol: 0.343 e/Å3