ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, LYS 82 TO ARG ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, THR 208 TO GLU ...ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, LYS 82 TO ARG ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, THR 208 TO GLU ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN B, LYS 82 TO ARG ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN B, THR 208 TO GLU ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN C, LYS 82 TO ARG ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN C, THR 208 TO GLU ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN D, LYS 82 TO ARG ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN D, THR 208 TO GLU ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN E, LYS 82 TO ARG ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN E, THR 208 TO GLU ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN F, LYS 82 TO ARG ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN F, THR 208 TO GLU
配列の詳細
G38 EXPRESSION TAG, R82 AND E208 ENGINEERED
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折
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試料調製
結晶
マシュー密度: 3.36 Å3/Da / 溶媒含有率: 63.46 % / 解説: NONE
結晶化
温度: 293 K / 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法 詳細: 60% TACSIMATE PH 7, VAPOR DIFFUSION, HANGING DROP, TEMPERATURE 293K
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データ収集
回折
平均測定温度: 100 K
放射光源
由来: シンクロトロン / サイト: SLS / ビームライン: X06DA / 波長: 1
検出器
タイプ: MARRESEARCH / 検出器: CCD / 日付: 2008年7月28日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.78→50 Å / Num. obs: 76705 / % possible obs: 99.4 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 4.97 % / Rmerge(I) obs: 0.07 / Net I/σ(I): 19.64
反射 シェル
解像度: 2.78→2.95 Å / 冗長度: 4.94 % / Rmerge(I) obs: 0.69 / Mean I/σ(I) obs: 2.49 / % possible all: 97.7