ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, LEU 24 TO MSE ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, VAL 134 TO MSE ...ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, LEU 24 TO MSE ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, VAL 134 TO MSE ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN B, LEU 24 TO MSE ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN B, VAL 134 TO MSE
配列の詳細
METHIONINES INTRODUCED FOR PHASING PURPOSES
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 1
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試料調製
結晶
マシュー密度: 5.65 Å3/Da / 溶媒含有率: 56.5 % / 解説: NONE
結晶化
pH: 6 詳細: 18-22% TERT-BUTANOL, 100 MM SODIUM CITRATE PH 6.0, 10 MM COCL2, AND 10 MM SPERMINE. BEFORE FREEZING, TERT-BUTANOL WAS SLOWLY EXCHANGED FOR 30% MPD
-
データ収集
回折
ID
平均測定温度 (K)
Crystal-ID
1
110
1
2
1
放射光源
由来
サイト
ビームライン
タイプ
ID
波長
波長 (Å)
回転陽極
ENRAF-NONIUS FR591
1
1.5418
シンクロトロン
APS
22-ID
2
0.97928, 0.97945, 0.97175
検出器
タイプ
ID
検出器
日付
詳細
RIGAKU IMAGE PLATE
1
IMAGE PLATE
2005年12月15日
MIRRORS
2
IMAGE PLATE
放射
ID
プロトコル
単色(M)・ラウエ(L)
散乱光タイプ
Wavelength-ID
1
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
1
2
M
x-ray
1
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
1.5418
1
2
0.97928
1
3
0.97945
1
4
0.97175
1
反射
解像度: 2.25→50 Å / Num. obs: 23115 / % possible obs: 96.2 % / 冗長度: 3.9 % / Rmerge(I) obs: 0.08 / Net I/σ(I): 9.8
反射 シェル
解像度: 2.25→2.33 Å / 冗長度: 3.2 % / Rmerge(I) obs: 0.47 / Mean I/σ(I) obs: 2.34 / % possible all: 94.7
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解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0019
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
SOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 2.24→123.09 Å / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.29
1172
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.253
-
-
-
obs
0.255
21863
95.3 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK