タイプ: MAR CCD 165 mm / 検出器: CCD / 日付: 2007年9月12日 / 詳細: Mirrors
放射
モノクロメーター: Double crystal / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.979 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.75→50 Å / Num. obs: 45750 / % possible obs: 97.3 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 13.7 % / Biso Wilson estimate: 19.8 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.081 / Net I/σ(I): 12
反射 シェル
解像度: 2.75→2.85 Å / Rmerge(I) obs: 0.412 / Mean I/σ(I) obs: 1.7 / % possible all: 79.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
CNS
1.2
精密化
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
SOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.75→19.93 Å / Rfactor Rfree error: 0.005 / Data cutoff high absF: 128328.65 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber 詳細: The Friedel pairs were used for phasing. Bulk solvent model was used in refinement