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基本情報
登録情報 | データベース: PDB / ID: 2pvi | ||||||
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タイトル | PVUII ENDONUCLEASE COMPLEXED TO AN IODINATED COGNATE DNA | ||||||
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![]() | HYDROLASE/DNA / COMPLEX (RESTRICTION ENDONUCLEASE-DNA) / HYDROLASE-DNA COMPLEX | ||||||
機能・相同性 | ![]() type II site-specific deoxyribonuclease / type II site-specific deoxyribonuclease activity / DNA restriction-modification system / DNA binding / metal ion binding 類似検索 - 分子機能 | ||||||
生物種 | ![]() | ||||||
手法 | ![]() ![]() ![]() | ||||||
![]() | Horton, J. / Cheng, X. | ||||||
![]() | ![]() タイトル: How is modification of the DNA substrate recognized by the PvuII restriction endonuclease? 著者: Horton, J.R. / Bonventre, J. / Cheng, X. #1: ![]() タイトル: Expression, Purification, and Crystallization of Restriction Endonuclease PvuII with DNA Containing its Recognition Site 著者: Balendiran, K. / Bonventre, J. / Knott, R. / Jack, W. / Benner, J. / Schildkraut, I. / Anderson, J.E. #2: ![]() タイトル: Structure of PvuII Endonuclease with Cognate DNA 著者: Cheng, X. / Balendiran, K. / Schildkraut, I. / Anderson, J.E. | ||||||
履歴 |
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構造の表示
構造ビューア | 分子: ![]() ![]() |
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ダウンロードとリンク
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ダウンロード
PDBx/mmCIF形式 | ![]() | 97.1 KB | 表示 | ![]() |
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PDB形式 | ![]() | 70.9 KB | 表示 | ![]() |
PDBx/mmJSON形式 | ![]() | ツリー表示 | ![]() | |
その他 | ![]() |
-検証レポート
文書・要旨 | ![]() | 444 KB | 表示 | ![]() |
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文書・詳細版 | ![]() | 454 KB | 表示 | |
XML形式データ | ![]() | 17.3 KB | 表示 | |
CIF形式データ | ![]() | 24.2 KB | 表示 | |
アーカイブディレクトリ | ![]() ![]() | HTTPS FTP |
-関連構造データ
関連構造データ | ![]() 1pviS S: 精密化の開始モデル |
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類似構造データ |
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リンク
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集合体
登録構造単位 | ![]()
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1 |
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単位格子 |
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要素
#1: DNA鎖 | 分子量: 4093.481 Da / 分子数: 2 / 由来タイプ: 合成 #2: タンパク質 | 分子量: 18220.859 Da / 分子数: 2 / 由来タイプ: 組換発現 / 由来: (組換発現) ![]() ![]() ![]() 参照: UniProt: P23657, type II site-specific deoxyribonuclease #3: 水 | ChemComp-HOH / | |
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-実験情報
-実験
実験 | 手法: ![]() |
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試料調製
結晶 | マシュー密度: 2.71 Å3/Da / 溶媒含有率: 54 % |
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結晶化 | 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法 / pH: 4.5 / 詳細: pH 4.5, VAPOR DIFFUSION, HANGING DROP |
-データ収集
回折 | 平均測定温度: 289 K |
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放射光源 | 由来: ![]() ![]() ![]() |
検出器 | タイプ: MARRESEARCH / 検出器: IMAGE PLATE / 詳細: COLLIMATOR |
放射 | モノクロメーター: SI (111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray |
放射波長 | 相対比: 1 |
反射 | 解像度: 1.76→19.5 Å / % possible obs: 77.3 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 3.8 % / Rmerge(I) obs: 0.054 / Net I/σ(I): 14.1 |
反射 シェル | 解像度: 1.76→1.84 Å / % possible all: 23.7 |
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解析
ソフトウェア |
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精密化 | 構造決定の手法: ![]() 開始モデル: 1PVI 解像度: 1.76→19.5 Å / Data cutoff high absF: 100000 / Data cutoff low absF: 0.1 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 詳細: TWO CONFORMATIONS EXIST FOR HIS A84 AND HIS B84.
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.76→19.5 Å
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拘束条件 |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.76→1.84 Å / Total num. of bins used: 8 /
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Xplor file |
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