モノクロメーター: Si double crystal / プロトコル: MAD / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.9537
1
2
0.9787
1
3
0.979
1
反射
解像度: 2.2→20 Å / Num. all: 22641 / Num. obs: 22609 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 42.6 % / Biso Wilson estimate: 35.4 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.085 / Net I/σ(I): 56
反射 シェル
解像度: 2.2→2.28 Å / 冗長度: 43.1 % / Rmerge(I) obs: 0.346 / Mean I/σ(I) obs: 13.4 / Num. unique all: 2202 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
REFMAC
5.2.0005
精密化
PDB_EXTRACT
2
データ抽出
MAR345
データ収集
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
Auto-Rickshaw
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.2→19.96 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.953 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.938 / SU B: 8.947 / SU ML: 0.12 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.197 / ESU R Free: 0.168 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: The refinement included TLS parameters. Residues 179-190, 245-256 and 318-330 were not modeled due to lack of electron density. There was no observed electron density for side chain atoms of ...詳細: The refinement included TLS parameters. Residues 179-190, 245-256 and 318-330 were not modeled due to lack of electron density. There was no observed electron density for side chain atoms of residues 87, 102, 118, 119, 177, 178, 191, 193, 227, 258, 259, 305, 306, 307, 310. Those atoms were modeled with zero occupancy and B-factor of 70 A2.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.217
1062
4.7 %
RANDOM
Rwork
0.184
-
-
-
all
0.186
22625
-
-
obs
0.186
22498
99.47 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 32.68 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-1.42 Å2
-0.71 Å2
0 Å2
2-
-
-1.42 Å2
0 Å2
3-
-
-
2.13 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.2→19.96 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2349
0
23
180
2552
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.017
0.022
2423
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.532
1.96
3290
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.935
5
291
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
32.511
22.155
116
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
14.577
15
396
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
20.007
15
28
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.09
0.2
359
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.006
0.02
2669
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.211
0.2
521
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.185
0.2
1170
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.148
0.2
154
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.199
0.2
10
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.196
0.2
14
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.004
1.5
1754
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
1.456
2.5
2393
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
4.065
5
1061
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
5.571
10
897
LS精密化 シェル
解像度: 2.2→2.26 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.292
84
-
Rwork
0.223
1519
-
obs
-
1603
99.26 %
精密化 TLS
手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION
ID
L11 (°2)
L12 (°2)
L13 (°2)
L22 (°2)
L23 (°2)
L33 (°2)
S11 (Å °)
S12 (Å °)
S13 (Å °)
S21 (Å °)
S22 (Å °)
S23 (Å °)
S31 (Å °)
S32 (Å °)
S33 (Å °)
T11 (Å2)
T12 (Å2)
T13 (Å2)
T22 (Å2)
T23 (Å2)
T33 (Å2)
Origin x (Å)
Origin y (Å)
Origin z (Å)
1
1.519
-0.2017
-0.1707
3.6049
-0.98
1.5895
0.0378
-0.0868
-0.0947
0.0905
-0.0546
-0.1882
-0.0161
0.0481
0.0168
-0.1759
0.0033
0.0375
-0.1148
0.0092
-0.1582
-0.396
-54.1991
2.1647
2
3.6702
-2.3207
-1.2934
4.0372
1.7109
3.0038
-0.0423
-0.2931
0.1258
0.2143
0.0714
-0.0147
-0.0655
0.1145
-0.0292
-0.1238
0.0235
0.0389
-0.0833
0.0126
-0.1169
-16.6828
-30.6473
2.6332
精密化 TLSグループ
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Selection: ALL / Auth asym-ID: A / Label asym-ID: A