ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング AMoRE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1K57解像度 : 2.5→15 Å / Rfactor Rfree error : 0.007 / Data cutoff high absF : 1439570.96 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.234 1266 7.8 % RANDOM Rwork 0.192 - - - obs 0.192 16213 99.8 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 35.4546 Å2 / ksol : 0.384349 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 32.1 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -8.62 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -8.62 Å2 0 Å2 3- - - 17.24 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.33 Å 0.26 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.27 Å 0.2 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.5→15 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1932 0 5 121 2058
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.006 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.2 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d22.4 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.74 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.34 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2.24 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2.33 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it3.43 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.5→2.66 Å / Rfactor Rfree error : 0.021 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.296 205 7.7 % Rwork 0.234 2443 - obs - - 99.5 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 ION.PARAMION.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 WATER_REP.PARAMWATER.TOP