ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB DENZOデータ削減 Show SCALEPACKデータスケーリング Show REFMAC5.2.0005精密化 Show PDB_EXTRACT2 データ抽出 Show HKL-2000データ削減
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2→28.23 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.926 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.89 / SU B : 4.683 / SU ML : 0.131 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.221 / ESU R Free : 0.19 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.26 2774 10 % RANDOM Rwork 0.215 - - - obs 0.22 27875 100 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 21.898 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0 Å2 0 Å2 0.04 Å2 2- - 0 Å2 0 Å2 3- - - 0.03 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→28.23 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2908 0 0 201 3109
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 17) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.021 0.022 2990 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.932 1.954 4105 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.363 5 363 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg34.286 23.768 138 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.542 15 434 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg20.32 15 20 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.119 0.2 470 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.009 0.02 2336 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.216 0.2 1155 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.317 0.2 1969 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.174 0.2 199 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.386 0.2 81 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.357 0.2 26 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.436 1.5 1931 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.286 2 3081 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.073 3 1216 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it5.09 4.5 1024
Refine LS restraints NCS Ens-ID : 1 / 数 : 665 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Dom-ID Auth asym-ID タイプ Rms dev position (Å)Weight position 1 ATIGHT POSITIONAL0.08 0.05 2 BTIGHT POSITIONAL0.09 0.05 3 CTIGHT POSITIONAL0.09 0.05 4 DTIGHT POSITIONAL0.11 0.05 1 ATIGHT THERMAL0.27 0.5 2 BTIGHT THERMAL0.29 0.5 3 CTIGHT THERMAL0.28 0.5 4 DTIGHT THERMAL0.29 0.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2→2.052 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.303 173 - Rwork 0.24 1564 - obs - 1737 100 %