ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
---|
REFMAC | 5.2.0005精密化 | ProDC | | データ収集 | XDS | | データ削減 | XSCALE | | データスケーリング | CCP4 | (SCALA)データスケーリング | SnB | | 位相決定 | | |
|
---|
精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2→25 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.955 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.94 / SU B: 8.898 / SU ML: 0.123 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / Isotropic thermal model: isotropic / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.183 / ESU R Free: 0.166 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: hydrogens have been added in the riding positions
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
---|
Rfree | 0.24055 | 1101 | 5.3 % | RANDOM |
---|
Rwork | 0.19504 | - | - | - |
---|
all | 0.19736 | 20788 | - | - |
---|
obs | 0.19736 | 20788 | 99.79 % | - |
---|
|
---|
溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK |
---|
原子変位パラメータ | Biso mean: 28.549 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
---|
1- | -1.98 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
---|
2- | - | -3.03 Å2 | 0 Å2 |
---|
3- | - | - | 5.01 Å2 |
---|
|
---|
精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2→25 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
---|
原子数 | 2054 | 0 | 0 | 174 | 2228 |
---|
|
---|
拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
---|
X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.01 | 0.022 | 2121 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.141 | 1.969 | 2880 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg4.216 | 5 | 269 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg36.937 | 23.407 | 91 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg15.302 | 15 | 396 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg16.447 | 15 | 18 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.075 | 0.2 | 342 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.004 | 0.02 | 1553 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_refined0.206 | 0.2 | 979 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbtor_refined0.294 | 0.2 | 1518 | X-RAY DIFFRACTION | r_xyhbond_nbd_refined0.171 | 0.2 | 138 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_refined0.146 | 0.2 | 43 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_hbond_refined0.157 | 0.2 | 15 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.735 | 1.5 | 1343 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.263 | 2 | 2112 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it1.902 | 3 | 877 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it3.113 | 4.5 | 762 | | | | | | | | | | | | | | | | | |
|
---|
Refine LS restraints NCS | Dom-ID: 1 / Auth asym-ID: A / Ens-ID: 1 / 数: 807 / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION タイプ | Rms dev position (Å) | Weight position |
---|
loose positional0.51 | 5 | loose thermal2.72 | 10 | | |
|
---|
LS精密化 シェル | 解像度: 2→2.052 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
---|
Rfree | 0.291 | 67 | - |
---|
Rwork | 0.238 | 1451 | - |
---|
obs | - | - | 100 % |
---|
|
---|
精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
---|
1 | 2.0415 | -0.5261 | 0.6424 | 0.9835 | -0.1203 | 0.3099 | 0.0106 | -0.075 | 0.0641 | 0.0017 | -0.0334 | 0.16 | 0.0137 | 0.0077 | 0.0228 | -0.0116 | -0.0059 | 0.0339 | -0.026 | -0.0036 | -0.0418 | 4.27 | 32.73 | 4.676 | 2 | 0.9733 | -0.1571 | -0.2425 | 0.6695 | -0.1457 | 0.1135 | 0.0071 | -0.0785 | 0.1639 | 0.0043 | 0.0031 | -0.0488 | 0.0529 | 0.0513 | -0.0101 | 0.0153 | -0.0052 | -0.0348 | 0.0043 | -0.0181 | -0.0622 | 28.319 | 29.769 | 5.251 |
|
---|
精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Label asym-ID | Auth seq-ID | Label seq-ID |
---|
1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | AA140 - 266 | 20 - 146 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | BB135 - 266 | 15 - 146 | | | | |
|
---|