ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0005精密化 HKL-2000データ削減 DENZOデータ削減 HKL-2000データスケーリング SCALEPACKデータスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : pdb entry 2GUX解像度 : 1.3→30 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.975 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.97 / SU B : 1.186 / SU ML : 0.025 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.052 / ESU R Free : 0.052 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.189 2687 5.1 % RANDOM Rwork 0.159 - - - all 0.159 53034 - - obs 0.159 52949 99.55 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 19.484 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.7 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.37 Å2 0 Å2 3- - - -0.34 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.3→30 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1840 0 64 283 2187
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.021 0.021 1920 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.458 1.975 2573 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.534 5 240 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg37.54 23.69 84 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg9.939 15 302 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg15.936 15 10 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.103 0.2 257 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 1446 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.207 0.2 871 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.312 0.2 1308 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.14 0.2 211 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.196 0.2 43 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.127 0.2 26 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.745 1.5 1206 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.533 2 1883 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.713 3 804 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.929 4.5 690 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.299→1.333 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.321 180 - Rwork 0.266 3683 - obs - - 95.81 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.4659 -0.2723 0.1107 1.5665 0.1477 1.1746 0.0052 -0.0382 0.0189 0.0152 0.0131 -0.0257 -0.0464 -0.026 -0.0183 -0.0528 -0.005 0.0001 -0.0143 0.0028 -0.0323 20.2079 45.3837 12.7481 2 1.2705 -0.1953 0.4788 1.8648 0.2948 1.6559 0.0495 0.0394 -0.0359 -0.0664 -0.069 0.0618 0.1229 -0.0136 0.0195 -0.0656 0.0021 0.0099 -0.0469 0.005 -0.0496 13.4945 28.9946 4.0589
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA0 - 121 1 - 121 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB0 - 121 1 - 121