ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 SBC-Collectデータ収集 HKL-2000データスケーリング HKL-3000位相決定 SHELXEモデル構築 SOLVE位相決定 RESOLVE位相決定 ARP/wARPモデル構築
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.5→37.45 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.955 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.941 / SU B : 2.445 / SU ML : 0.048 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / ESU R : 0.083 / ESU R Free : 0.083 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.21024 1435 5 % RANDOM Rwork 0.18357 - - - all 0.18493 29183 - - obs 0.18493 27257 93.4 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 12.785 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.07 Å2 0 Å2 0.33 Å2 2- - 0.34 Å2 0 Å2 3- - - -0.23 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.038 Å 0.031 Å Luzzati d res low - 6 Å Luzzati sigma a 0.5 Å 0.029 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.5→37.45 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1466 0 0 257 1723
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 24) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.008 0.022 1503 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 993 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.233 1.962 2057 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.866 3 2426 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.885 5 192 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg32.705 24.308 65 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.486 15 224 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.186 15 10 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.073 0.2 232 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 1695 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 291 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.218 0.2 299 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.193 0.2 1099 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.172 0.2 752 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.085 0.2 768 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.127 0.2 180 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.132 0.2 13 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.215 0.2 50 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.143 0.2 28 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.959 1.5 1153 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.146 1.5 382 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.01 2 1565 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.929 3 592 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.784 4.5 492
LS精密化 シェル 解像度 : 1.501→1.54 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.27 74 - Rwork 0.217 1344 - obs - 1344 62.94 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 6.468 Å / Origin y : 10.251 Å / Origin z : 18.996 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T -0.0362 Å2 -0.0066 Å2 0 Å2 - -0.0235 Å2 -0.0055 Å2 - - -0.0185 Å2 L 0.7374 °2 -0.0518 °2 -0.1479 °2 - 0.5276 °2 -0.2829 °2 - - 0.9557 °2 S -0.0122 Å ° 0.0267 Å ° -0.0212 Å ° 0.0038 Å ° 0.0156 Å ° 0.0569 Å ° 0.0681 Å ° -0.0395 Å ° -0.0034 Å °
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA1 - 40 1 - 40 2 X-RAY DIFFRACTION 1 AA41 - 80 41 - 80 3 X-RAY DIFFRACTION 1 AA81 - 120 81 - 120 4 X-RAY DIFFRACTION 1 AA121 - 160 121 - 160 5 X-RAY DIFFRACTION 1 AA161 - 193 161 - 193