プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.05→8 Å / Num. obs: 16811 / % possible obs: 84.8 % / 冗長度: 2.14 % / Rmerge(I) obs: 0.058 / Net I/σ(I): 11.54
反射 シェル
解像度: 2.05→2.2 Å / Rmerge(I) obs: 0.347 / Mean I/σ(I) obs: 2.93 / % possible all: 83.6
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
XSCALE
データスケーリング
PHASER
位相決定
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
1.701
データ抽出
MAR345
データ収集
XDS
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.1→7.97 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.935 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.876 / SU B: 8.029 / SU ML: 0.208 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.256 / ESU R Free: 0.241 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.3117
840
5 %
RANDOM
Rwork
0.22871
-
-
-
obs
0.2328
15971
100 %
-
all
-
16811
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK