ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 CrystalClearデータ収集 d*TREKデータ削減 d*TREKデータスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1U8D解像度 : 2.25→14.85 Å / Rfactor Rfree error : 0.009 / Data cutoff high absF : 669000.15 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 3 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.285 933 10.2 % RANDOM Rwork 0.234 - - - obs 0.234 9165 96.9 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 41 Å2 / ksol : 0.32 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 36.8 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 10.39 Å2 0 Å2 4.83 Å2 2- - -9.94 Å2 0 Å2 3- - - -0.44 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.42 Å 0.32 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.31 Å 0.28 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.25→14.85 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 1422 70 237 1729
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.004 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg0.8 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d21.6 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.4 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.25→2.33 Å / Rfactor Rfree error : 0.027 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.324 147 9.6 % Rwork 0.264 1382 - obs - 1382 98.1 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 water_rep.paramwater_rep.topX-RAY DIFFRACTION 2 dna-rna_rep_revise.param dna-rna_rep_revise.top X-RAY DIFFRACTION 3 ion.paramion.topX-RAY DIFFRACTION 4 cohex_rep.paramcohex_rep.topX-RAY DIFFRACTION 5 acetate.paramacetate.top