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基本情報
| 登録情報 | データベース: PDB / ID: 237d | ||||||||||||||||||
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| タイトル | CRYSTAL STRUCTURE OF A DNA DECAMER SHOWING A NOVEL PSEUDO FOUR-WAY HELIX-HELIX JUNCTION | ||||||||||||||||||
要素 | DNA (5'-D(* キーワードDNA / B-DNA / DOUBLE HELIX / FLIPPED-OUT BASES / INTERMOLECULAR BASE TRIPLET | 機能・相同性 | DNA | 機能・相同性情報手法 | X線回折 / 解像度: 2.5 Å データ登録者Spink, N. / Nunn, C.M. / Vojtechovsky, J. / Berman, H.M. / Neidle, S. | 引用 ジャーナル: Proc.Natl.Acad.Sci.USA / 年: 1995タイトル: Crystal structure of a DNA decamer showing a novel pseudo four-way helix-helix junction. 著者: Spink, N. / Nunn, C.M. / Vojtechovsky, J. / Berman, H.M. / Neidle, S. 履歴 |
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構造の表示
| 構造ビューア | 分子: Molmil Jmol/JSmol |
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ダウンロードとリンク
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ダウンロード
| PDBx/mmCIF形式 | 237d.cif.gz | 14.8 KB | 表示 | PDBx/mmCIF形式 |
|---|---|---|---|---|
| PDB形式 | pdb237d.ent.gz | 8.9 KB | 表示 | PDB形式 |
| PDBx/mmJSON形式 | 237d.json.gz | ツリー表示 | PDBx/mmJSON形式 | |
| その他 | その他のダウンロード |
-検証レポート
| 文書・要旨 | 237d_validation.pdf.gz | 321.9 KB | 表示 | wwPDB検証レポート |
|---|---|---|---|---|
| 文書・詳細版 | 237d_full_validation.pdf.gz | 326 KB | 表示 | |
| XML形式データ | 237d_validation.xml.gz | 1.9 KB | 表示 | |
| CIF形式データ | 237d_validation.cif.gz | 2.6 KB | 表示 | |
| アーカイブディレクトリ | https://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/37/237d ftp://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/37/237d | HTTPS FTP |
-関連構造データ
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リンク
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集合体
| 登録構造単位 | ![]()
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| 1 | ![]()
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| 単位格子 |
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要素
| #1: DNA鎖 | 分子量: 3045.005 Da / 分子数: 1 / 由来タイプ: 合成 |
|---|---|
| #2: 水 | ChemComp-HOH / |
-実験情報
-実験
| 実験 | 手法: X線回折 |
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試料調製
| 結晶 | マシュー密度: 2.35 Å3/Da / 溶媒含有率: 47.73 % | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 結晶化 | 温度: 287 K / 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法 / pH: 7 詳細: pH 7.00, VAPOR DIFFUSION, HANGING DROP, temperature 287.00K | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 溶液の組成 |
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| 結晶化 | *PLUS 温度: 287 K / pH: 7 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 溶液の組成 | *PLUS
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-データ収集
| 回折 | 平均測定温度: 294 K |
|---|---|
| 放射光源 | 由来: 回転陽極 / 波長: 1.5418 |
| 検出器 | タイプ: XENTRONICS / 検出器: AREA DETECTOR |
| 放射 | 散乱光タイプ: x-ray |
| 放射波長 | 波長: 1.5418 Å / 相対比: 1 |
| 反射 | 最高解像度: 2.2 Å / Num. all: 10180 / Num. obs: 1521 |
| 反射 | *PLUS Observed criterion σ(I): 0 / Rmerge(I) obs: 0.102 |
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解析
| ソフトウェア | 名称: X-PLOR / 分類: 精密化 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 精密化 | 解像度: 2.5→8 Å / σ(F): 2 /
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| Refine Biso |
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| 精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.5→8 Å
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| 拘束条件 |
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| 精密化 | *PLUS 最高解像度: 2.5 Å / 最低解像度: 8 Å / σ(F): 2 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 溶媒の処理 | *PLUS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 原子変位パラメータ | *PLUS |
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コントローラー
万見について




X線回折
引用







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