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基本情報
| 登録情報 | データベース: PDB / ID: 210d | ||||||||||||||||||
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| タイトル | CRYSTAL AND MOLECULAR STRUCTURE OF A NEW Z-DNA CRYSTAL FORM: D[CGT(2-NH2-A)CG] AND ITS PLATINATED DERIVATIVE | ||||||||||||||||||
要素 | DNA (5'-D(* キーワードDNA / Z-DNA / DOUBLE HELIX / MODIFIED | 機能・相同性 | SPERMINE / DNA | 機能・相同性情報手法 | X線回折 / 解像度: 1.35 Å データ登録者Parkinson, G.N. / Arvantis, G.M. / Lessinger, L. / Ginell, S.L. / Jones, R. / Gaffney, B. / Berman, H.M. | 引用 ジャーナル: Biochemistry / 年: 1995タイトル: Crystal and molecular structure of a new Z-DNA crystal form: d[CGT(2-NH2-A)CG] and its platinated derivative. 著者: Parkinson, G.N. / Arvanitis, G.M. / Lessinger, L. / Ginell, S.L. / Jones, R. / Gaffney, B. / Berman, H.M. 履歴 |
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構造の表示
| 構造ビューア | 分子: Molmil Jmol/JSmol |
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ダウンロードとリンク
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ダウンロード
| PDBx/mmCIF形式 | 210d.cif.gz | 13.2 KB | 表示 | PDBx/mmCIF形式 |
|---|---|---|---|---|
| PDB形式 | pdb210d.ent.gz | 7.3 KB | 表示 | PDB形式 |
| PDBx/mmJSON形式 | 210d.json.gz | ツリー表示 | PDBx/mmJSON形式 | |
| その他 | その他のダウンロード |
-検証レポート
| アーカイブディレクトリ | https://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/10/210d ftp://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/10/210d | HTTPS FTP |
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-関連構造データ
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リンク
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集合体
| 登録構造単位 | ![]()
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| 1 | ![]()
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| 単位格子 |
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要素
| #1: DNA鎖 | 分子量: 1824.231 Da / 分子数: 1 / 由来タイプ: 合成 |
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| #2: 化合物 | ChemComp-SPM / |
| #3: 水 | ChemComp-HOH / |
-実験情報
-実験
| 実験 | 手法: X線回折 |
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試料調製
| 結晶 | マシュー密度: 1.91 Å3/Da / Density meas: 1.45 Mg/m3 / 溶媒含有率: 35.5 % | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 結晶化 | 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 / 詳細: VAPOR DIFFUSION, SITTING DROP / Temp details: ROOM TEMPERATURE | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 溶液の組成 |
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| 結晶化 | *PLUS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 溶液の組成 | *PLUS
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-データ収集
| 回折 | 平均測定温度: 291 K |
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| 放射光源 | 由来: 回転陽極 |
| 検出器 | タイプ: ENRAF-NONIUS CAD4 / 検出器: DIFFRACTOMETER |
| 放射 | 散乱光タイプ: x-ray |
| 放射波長 | 相対比: 1 |
| 反射 | 最高解像度: 1.35 Å / Num. all: 4487 / Num. obs: 3408 / Observed criterion σ(F): 2 |
| 反射 | *PLUS 最高解像度: 1.35 Å / 最低解像度: 2.1 Å / Num. obs: 3408 / % possible obs: 94 % / Observed criterion σ(F): 4 / Num. measured all: 4487 |
| 反射 シェル | *PLUS 最高解像度: 1.35 Å / 最低解像度: 1.5 Å / % possible obs: 53 % |
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解析
| ソフトウェア | 名称: X-PLOR / 分類: 精密化 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 精密化 | 解像度: 1.35→12 Å / σ(F): 4 /
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| 精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.35→12 Å
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| 拘束条件 |
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| 精密化 | *PLUS 最高解像度: 1.35 Å / 最低解像度: 12 Å / σ(F): 4 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 溶媒の処理 | *PLUS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 原子変位パラメータ | *PLUS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 拘束条件 | *PLUS
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ムービー
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X線回折
引用








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