解像度: 2→29.07 Å / Num. obs: 27230 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 10.8 % / Rsym value: 0.089 / Net I/σ(I): 5.7
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Mean I/σ(I) obs
Num. measured obs
Rsym value
Diffraction-ID
% possible all
2-2.05
10.9
1.6
1972
0.479
1
100
2.05-2.11
11
2
1931
0.377
1
100
2.11-2.17
11
2.5
1867
0.31
1
100
2.17-2.24
11
3
1822
0.252
1
100
2.24-2.31
11
3.5
1764
0.214
1
100
2.31-2.39
10.9
4
1711
0.187
1
100
2.39-2.48
10.9
4.4
1666
0.169
1
100
2.48-2.58
10.9
5
1587
0.15
1
100
2.58-2.7
10.9
5.4
1546
0.133
1
100
2.7-2.83
10.9
6.2
1467
0.115
1
100
2.83-2.98
10.9
7.6
1411
0.091
1
100
2.98-3.16
10.8
8.1
1328
0.084
1
100
3.16-3.38
10.8
7.9
1258
0.078
1
100
3.38-3.65
10.7
8.5
1170
0.074
1
100
3.65-4
10.6
9
1098
0.069
1
100
4-4.47
10.5
10.3
1001
0.061
1
100
4.47-5.16
10.4
10.3
887
0.06
1
100
5.16-6.32
9.9
9.1
767
0.069
1
100
6.32-8.94
9.6
10
611
0.062
1
100
8.94-29.07
8.6
10.6
366
0.056
1
97.3
-
位相決定
位相決定
手法: 多波長異常分散
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
REFMAC
5.2.0005
精密化
SCALA
データスケーリング
PDB_EXTRACT
1.6
データ抽出
MOSFLM
データ削減
CCP4
(SCALA)
データスケーリング
SOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2→29 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.957 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.93 / SU B: 5.629 / SU ML: 0.081 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.14 / ESU R Free: 0.137 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES 詳細: 1. HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS 2. UNMODELED DENSITY NEAR HIS117 MAY BE A COVALENT MODIFICATION, THOUGH IT CANNOT BE IDENTIFIED.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.221
1397
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.179
-
-
-
all
0.181
-
-
-
obs
0.18088
25841
99.93 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 31.236 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
0 Å2
0 Å2
3-
-
-
0 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2→29 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2202
0
26
135
2363
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.017
0.022
2310
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.001
0.02
2230
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.537
1.984
3119
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.869
3
5158
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.876
5
281
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
30.264
23.232
99
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
14.09
15
416
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
18.466
15
19
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.1
0.2
363
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.006
0.02
2496
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
468
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.204
0.2
438
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.179
0.2
2173
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.181
0.2
1099
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.084
0.2
1347
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.166
0.2
107
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.175
0.2
16
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.244
0.2
127
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.245
0.2
21
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.26
1.5
1538
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
0.3
1.5
576
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
1.692
2
2293
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
2.642
3
980
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
3.85
4.5
826
LS精密化 シェル
解像度: 2→2.052 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.244
109
-
Rwork
0.165
1864
-
obs
-
-
100 %
精密化 TLS
手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION
ID
L11 (°2)
L12 (°2)
L13 (°2)
L22 (°2)
L23 (°2)
L33 (°2)
S11 (Å °)
S12 (Å °)
S13 (Å °)
S21 (Å °)
S22 (Å °)
S23 (Å °)
S31 (Å °)
S32 (Å °)
S33 (Å °)
T11 (Å2)
T12 (Å2)
T13 (Å2)
T22 (Å2)
T23 (Å2)
T33 (Å2)
Origin x (Å)
Origin y (Å)
Origin z (Å)
1
1.5098
0.0493
-1.1937
1.966
-1.108
2.6169
0.1097
0.0911
0.0626
-0.0946
0.0091
0.1201
-0.0703
-0.0563
-0.1188
-0.1504
0.0208
-0.0103
-0.0625
0.0121
-0.0978
22.06
55.122
-16.759
2
3.2389
-0.0873
-0.4998
1.0829
-0.0272
1.9111
0.0858
-0.458
0.0326
0.1822
-0.066
-0.0426
0.0734
0.1265
-0.0198
-0.1726
-0.0227
0.0239
-0.0194
0.0055
-0.1131
-1.056
51.553
8.248
精密化 TLSグループ
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Selection: ALL / Auth asym-ID: A / Label asym-ID: A