ソフトウェア 名称 バージョン 分類 XDSデータスケーリング SCALA5.0)データスケーリング SHELXモデル構築 SHARP位相決定 REFMAC(5.2.0005)精密化 XDSデータ削減 CCP4(SCALA)データスケーリング SHELX位相決定
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 1.46→29.48 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.978 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.969 / SU B : 2.137 / SU ML : 0.041 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.055 / ESU R Free : 0.058 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.17483 3955 5 % RANDOM Rwork 0.14832 - - - obs 0.14964 74793 97.69 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 19.183 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.6 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.04 Å2 0 Å2 3- - - -0.56 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.46→29.48 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3225 0 36 417 3678
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 25) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.012 0.021 3375 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 3010 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.368 1.915 4585 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.826 3 6987 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.902 5 404 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg31.922 23.938 160 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.275 15 572 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg10.902 15 20 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.08 0.2 535 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 3687 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 667 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.217 0.2 573 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.191 0.2 3099 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.082 0.2 1982 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.138 0.2 311 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.166 0.2 8 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.28 0.2 63 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.133 0.2 24 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.608 3 2033 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.435 3 838 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.692 5 3332 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.95 8 1390 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it6.223 11 1253 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.176 0.2 1614 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refined0.091 0.2 6
LS精密化 シェル 解像度 : 1.46→1.498 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.326 268 5.33 % Rwork 0.261 4762 - obs - - 85.81 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 3) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.5315 -0.0917 0.1709 0.6189 0.0141 0.985 -0.0203 0.0904 0.0211 -0.1219 -0.0211 -0.0059 -0.0967 0.0379 0.0413 -0.0479 -0.01 -0.0015 -0.0235 0.0069 0.0127 49.263 17.162 6.109 2 0.541 -0.062 0.3037 0.6822 0.2767 1.2397 0.0358 -0.0825 -0.0642 0.1078 -0.0145 0.0868 0.1509 -0.1569 -0.0213 -0.0476 -0.0223 -0.0058 -0.0223 0.0132 0.0298 41.67 8.636 22.556 3 0.6213 0.064 0.4468 0.7085 0.278 1.1067 0.0392 0.0506 -0.0321 0.0614 0.0097 -0.1361 0.0516 0.2062 -0.0489 -0.0533 0.0028 -0.019 -0.0152 -0.0001 0.0335 61.13 12.769 21.658
精密化 TLSグループ Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Selection : ALL
ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 1 AA-2 - 133 10 - 145 2 2 BB-2 - 133 10 - 145 3 3 CC-1 - 133 11 - 145