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-基本情報
登録情報 | データベース: PDB / ID: 1sel | |||||||||
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タイトル | CRYSTAL STRUCTURE OF SELENOSUBTILISIN AT 2.0-ANGSTROMS RESOLUTION | |||||||||
要素 | SELENOSUBTILISIN | |||||||||
キーワード | HYDROLASE(SERINE PROTEASE) | |||||||||
機能・相同性 | 機能・相同性情報 subtilisin / serine-type endopeptidase activity / proteolysis / extracellular region / metal ion binding 類似検索 - 分子機能 | |||||||||
生物種 | Bacillus subtilis (枯草菌) | |||||||||
手法 | X線回折 / 解像度: 2 Å | |||||||||
データ登録者 | Syed, R. / Hogle, J.M. / Hilvert, D. | |||||||||
引用 | ジャーナル: Biochemistry / 年: 1993 タイトル: Crystal structure of selenosubtilisin at 2.0-A resolution. 著者: Syed, R. / Wu, Z.P. / Hogle, J.M. / Hilvert, D. | |||||||||
履歴 |
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-構造の表示
構造ビューア | 分子: MolmilJmol/JSmol |
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-ダウンロードとリンク
-ダウンロード
PDBx/mmCIF形式 | 1sel.cif.gz | 108 KB | 表示 | PDBx/mmCIF形式 |
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PDB形式 | pdb1sel.ent.gz | 83 KB | 表示 | PDB形式 |
PDBx/mmJSON形式 | 1sel.json.gz | ツリー表示 | PDBx/mmJSON形式 | |
その他 | その他のダウンロード |
-検証レポート
文書・要旨 | 1sel_validation.pdf.gz | 373.3 KB | 表示 | wwPDB検証レポート |
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文書・詳細版 | 1sel_full_validation.pdf.gz | 377.8 KB | 表示 | |
XML形式データ | 1sel_validation.xml.gz | 12 KB | 表示 | |
CIF形式データ | 1sel_validation.cif.gz | 18.9 KB | 表示 | |
アーカイブディレクトリ | https://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/se/1sel ftp://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/se/1sel | HTTPS FTP |
-関連構造データ
-リンク
-集合体
登録構造単位 |
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1 |
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2 |
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単位格子 |
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Atom site foot note | 1: CIS PROLINE - PRO A 168 / 2: RESIDUE 221 IN CHAIN A IS A SELENOCYSTEINE. / 3: CIS PROLINE - PRO B 168 / 4: RESIDUE 221 IN CHAIN B IS A SELENOCYSTEINE. |
-要素
#1: タンパク質 | 分子量: 27401.158 Da / 分子数: 2 / 由来タイプ: 組換発現 / 由来: (組換発現) Bacillus subtilis (枯草菌) / 参照: UniProt: P00780 #2: 化合物 | ChemComp-CA / #3: 水 | ChemComp-HOH / | |
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-実験情報
-実験
実験 | 手法: X線回折 |
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-試料調製
結晶 | マシュー密度: 2.3 Å3/Da / 溶媒含有率: 46.54 % | ||||||||||||||||||||
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結晶化 | *PLUS 温度: 22.5 ℃ / pH: 8 / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 | ||||||||||||||||||||
溶液の組成 | *PLUS
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-データ収集
反射 | *PLUS 最高解像度: 2 Å / 最低解像度: 40 Å |
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反射 シェル | *PLUS 最高解像度: 2 Å / 最低解像度: 2.13 Å / Num. possible: 2636 / Num. unique obs: 5618 / Rmerge(I) obs: 0.243 |
-解析
ソフトウェア |
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精密化 | 解像度: 2→8 Å / Rfactor Rwork: 0.173 / Rfactor obs: 0.173 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2→8 Å
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拘束条件 |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / 分類: refinement | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
精密化 | *PLUS 最高解像度: 2 Å / 最低解像度: 8 Å / Num. reflection obs: 22155 / σ(I): 2 / Rfactor obs: 0.173 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
溶媒の処理 | *PLUS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
原子変位パラメータ | *PLUS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
拘束条件 | *PLUS
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