| ソフトウェア | | 名称 | バージョン | 分類 |
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| DENZO | | データ削減 | | SCALEPACK | | データスケーリング | | SHELXD | | 位相決定 | | REFMAC | 5.1.24| 精密化 | |
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| 精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 1.899→48.8 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.957 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.95 / SU B: 3.615 / SU ML: 0.107 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / Isotropic thermal model: isotropic with TLS / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / ESU R: 0.17 / ESU R Free: 0.149 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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| Rfree | 0.22622 | 868 | 5 % | RANDOM |
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| Rwork | 0.19011 | - | - | - |
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| all | 0.231 | 17267 | - | - |
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| obs | 0.19199 | 16398 | 99.48 % | - |
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| 溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK |
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| 原子変位パラメータ | Biso mean: 18.064 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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| 1- | -2.33 Å2 | 0 Å2 | 0.01 Å2 |
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| 2- | - | -0.99 Å2 | 0 Å2 |
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| 3- | - | - | 3.32 Å2 |
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| 精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.899→48.8 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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| 原子数 | 1757 | 0 | 0 | 131 | 1888 |
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| 拘束条件 | | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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| X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d| 0.009 | 0.022 | 1790 | | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d| 0.002 | 0.02 | 1674 | | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg| 1.456 | 1.953 | 2428 | | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg| 0.742 | 3 | 3867 | | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg| 6.426 | 5 | 224 | | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr| 0.089 | 0.2 | 274 | | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined| 0.006 | 0.02 | 1987 | | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other| 0.002 | 0.02 | 362 | | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_refined| 0.238 | 0.3 | 360 | | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_other| 0.269 | 0.3 | 1941 | | X-RAY DIFFRACTION | r_nbtor_other| 0.093 | 0.5 | 1070 | | X-RAY DIFFRACTION | r_xyhbond_nbd_refined| 0.205 | 0.5 | 181 | | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_refined| 0.217 | 0.3 | 7 | | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_other| 0.283 | 0.3 | 43 | | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_hbond_refined| 0.176 | 0.5 | 17 | | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it| 1.542 | 2 | 1131 | | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it| 2.718 | 4 | 1811 | | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it| 3.462 | 4 | 659 | | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it| 5.267 | 6 | 617 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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| Refine LS restraints NCS | Dom-ID: 1 / Auth asym-ID: A / Ens-ID: 1 / 数: 1562 / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION | タイプ | Rms dev position (Å) | Weight position |
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loose positional| 0.67 | 5 | loose thermal| 2.18 | 10 | | |
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| LS精密化 シェル | 解像度: 1.899→1.948 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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| Rfree | 0.28 | 59 | - |
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| Rwork | 0.211 | 1183 | - |
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| obs | - | 1183 | 97 % |
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| 精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION | ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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| 1 | 2.622 | -0.5 | -0.7961 | 3.4583 | -1.5492 | 3.0052 | -0.0239 | 0.2241 | -0.2117 | -0.1977 | 0.0408 | -0.0357 | 0.2369 | 0.0215 | -0.0169 | 0.1616 | -0.0007 | 0.0157 | 0.2002 | -0.013 | 0.0198 | 17.07 | 1.323 | 14.974 | | 2 | 3.9411 | -0.3322 | 0.2111 | 0.9087 | -0.3577 | 1.9296 | 0.0679 | 0.3217 | 0.0202 | -0.0416 | -0.0773 | 0.1289 | 0.0378 | -0.0686 | 0.0095 | 0.1747 | 0.0101 | 0.0361 | 0.1796 | 0.0044 | 0.0075 | -3.507 | 12.901 | 14.425 |
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| 精密化 TLSグループ | | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Label asym-ID | Auth seq-ID | Label seq-ID |
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| 1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | AA| 1 - 118 | 1 - 118 | | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | BB| 2 - 118 | 2 - 118 | | | | |
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| 精密化 | *PLUS 最高解像度: 1.9 Å / 最低解像度: 19.2 Å / % reflection Rfree: 5 % / Rfactor Rfree: 0.226 / Rfactor Rwork: 0.19 |
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| 溶媒の処理 | *PLUS |
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| 原子変位パラメータ | *PLUS |
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| 拘束条件 | *PLUS | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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| X-RAY DIFFRACTION | r_bond_d| 0.014 | | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_deg| 2.8 | | | |
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