| ソフトウェア | | 名称 | バージョン | 分類 |
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| REFMAC | 5 | 精密化 | | HKL-2000 | | データ削減 | | SCALEPACK | | データスケーリング | | SOLVE | | 位相決定 |
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| 精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 1.49→30 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.959 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.947 / SU B: 2.155 / SU ML: 0.081 / Isotropic thermal model: isotropic temperature factors / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.085 / ESU R Free: 0.085 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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| Rfree | 0.21002 | 3785 | 10 % | RANDOM |
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| Rwork | 0.17821 | - | - | - |
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| all | 0.18135 | 35363 | - | - |
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| obs | 0.18135 | 33970 | 96.06 % | - |
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| 溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK |
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| 原子変位パラメータ | Biso mean: 17.19 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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| 1- | 0.03 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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| 2- | - | 0.03 Å2 | 0 Å2 |
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| 3- | - | - | -0.06 Å2 |
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| 精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.49→30 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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| 原子数 | 2030 | 0 | 16 | 240 | 2286 |
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| 拘束条件 | | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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| X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d| 0.015 | 0.022 | 2094 | | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d| 0.002 | 0.02 | 1892 | | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg| 1.445 | 1.976 | 2804 | | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg| 1.036 | 3 | 4460 | | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg| 3.481 | 3 | 246 | | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg| 14.823 | 15 | 441 | | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr| 0.083 | 0.2 | 298 | | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined| 0.006 | 0.02 | 2244 | | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other| 0.004 | 0.02 | 400 | | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_refined| 0.232 | 0.3 | 481 | | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_other| 0.192 | 0.3 | 1741 | | X-RAY DIFFRACTION | r_xyhbond_nbd_refined| 0.139 | 0.5 | 151 | | X-RAY DIFFRACTION | r_xyhbond_nbd_other| 0.018 | 0.5 | 1 | | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_refined| 0.215 | 0.3 | 10 | | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_other| 0.237 | 0.3 | 45 | | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_hbond_refined| 0.156 | 0.5 | 25 | | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it| 1.03 | 1.5 | 1272 | | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it| 1.832 | 2 | 2056 | | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it| 3.015 | 3 | 822 | | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it| 4.978 | 4.5 | 748 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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| LS精密化 シェル | 解像度: 1.49→1.57 Å / Total num. of bins used: 10 / | Rfactor | 反射数 |
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| Rfree | 0.239 | 569 |
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| Rwork | 0.201 | 4766 |
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| obs | - | 5330 |
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| ソフトウェア | *PLUS バージョン: 5 / 分類: refinement |
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| 精密化 | *PLUS % reflection Rfree: 10 % / Rfactor Rfree: 0.21 / Rfactor Rwork: 0.178 |
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| 溶媒の処理 | *PLUS |
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| 原子変位パラメータ | *PLUS |
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| 拘束条件 | *PLUS | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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| X-RAY DIFFRACTION | r_bond_d| 0.015 | | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_deg| 1.445 | | | |
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