ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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CNS | 1.1 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング | CNS | | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2→29.21 Å / Rfactor Rfree error: 0.005 / Data cutoff high absF: 341791.35 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 2
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.203 | 1639 | 10 % | RANDOM |
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Rwork | 0.162 | - | - | - |
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obs | 0.162 | 16425 | 96 % | - |
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all | - | 60539 | - | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 49.5375 Å2 / ksol: 0.371814 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 21.3 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 0.5 Å2 | 0 Å2 | -0.15 Å2 |
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2- | - | 0.54 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -1.04 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.23 Å | 0.18 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.2 Å | 0.15 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2→29.21 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1911 | 0 | 42 | 128 | 2081 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.008 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d23 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d0.84 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.3 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it1.9 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it3.14 | 2.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it4.54 | 3.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2→2.07 Å / Rfactor Rfree error: 0.022 / Total num. of bins used: 10
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.272 | 157 | 10.4 % |
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Rwork | 0.227 | 1352 | - |
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obs | - | - | 91 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | ION.PARAMION.TOPX-RAY DIFFRACTION | 4 | CARBOHYDRATE.PARAMCARBOHYDRATE.TOP | | | | | | | |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 2 Å / Num. reflection obs: 14786 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg23 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg0.84 | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS 最高解像度: 2 Å / Rfactor Rfree: 0.271 |
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