ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
---|
X-PLOR | | モデル構築 | X-PLOR | 3.851 | 精密化 | X-GEN | | データ削減 | XDS | | データスケーリング | X-PLOR | | 位相決定 |
|
---|
精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.8→30 Å / Rfactor Rfree error: 0.009 / Data cutoff high absF: 10000000 / Data cutoff low absF: 0.001 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
---|
Rfree | 0.247 | 833 | 4.8 % | RANDOM |
---|
Rwork | 0.172 | - | - | - |
---|
all | 0.176 | 17213 | - | - |
---|
obs | 0.176 | 17213 | 92.2 % | - |
---|
|
---|
原子変位パラメータ | Biso mean: 18.1 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
---|
1- | 0 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
---|
2- | - | 0 Å2 | 0 Å2 |
---|
3- | - | - | 0 Å2 |
---|
|
---|
Refine analyze | | Free | Obs |
---|
Luzzati coordinate error | 0.36 Å | 0.25 Å |
---|
Luzzati d res low | - | 5 Å |
---|
Luzzati sigma a | 0.32 Å | 0.28 Å |
---|
|
---|
精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.8→30 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
---|
原子数 | 4755 | 0 | 234 | 95 | 5084 |
---|
|
---|
拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
---|
X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.008 | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.4 | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d27.6 | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d0.67 | | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it1.35 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it2.22 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it2.31 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it3.59 | 2.5 | | | | | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | 最高解像度: 2.8 Å / Total num. of bins used: 10 / | 反射数 | %反射 |
---|
Rwork | 1177 | - |
---|
Rfree | - | 4.9 % |
---|
|
---|
Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
---|
X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMTOPHCSDX.PROX-RAY DIFFRACTION | 2 | COA.PARCOA.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | IPT.PARIPT.TOP | | | | | |
|
---|
精密化 | *PLUS Rfactor all: 0.176 / Rfactor obs: 0.172 / Rfactor Rfree: 0.247 / Rfactor Rwork: 0.172 |
---|
溶媒の処理 | *PLUS |
---|
原子変位パラメータ | *PLUS |
---|
拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
---|
X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_deg27.6 | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_deg0.67 | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | *PLUS 最高解像度: 2.8 Å / 最低解像度: 2.9 Å / Rfactor Rfree: 0.208 / Rfactor Rwork: 0.244 / Rfactor obs: 0.244 |
---|