ソフトウェア | 名称 | 分類 |
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DENZO | データ削減 | SCALEPACK | データスケーリング | CNS | 精密化 | CNS | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: フーリエ合成 / 解像度: 2.04→26.64 Å / Rfactor Rfree error: 0.005 / Data cutoff high absF: 271730.1 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: ENGH & HUBER
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.257 | 2682 | 9.9 % | RANDOM |
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Rwork | 0.196 | - | - | - |
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obs | - | 27097 | 95.5 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 60.3981 Å2 / ksol: 0.37903 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 23.3 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -1.73 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 0.78 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 0.95 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.3 Å | 0.24 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.25 Å | 0.26 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.04→26.64 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 3256 | 0 | 40 | 223 | 3519 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.014 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.9 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d25.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d1.07 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.29 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it2.12 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it2.33 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it3.6 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.04→2.17 Å / Rfactor Rfree error: 0.016 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.306 | 364 | 9.8 % |
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Rwork | 0.27 | 3347 | - |
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obs | - | 27097 | 79.4 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | DNA-RNA_REP.PARAM | DNA-RNA.TOP | X-RAY DIFFRACTION | 3 | WATER_REP.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION | 4 | ION.PARAMION.TOPX-RAY DIFFRACTION | 5 | INHIBITOR.PARINHIBITOR.TOP | | | | | | | |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 2.07 Å / 最低解像度: 40 Å / Rfactor Rfree: 0.25 / Rfactor Rwork: 0.19 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.012 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.85 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg25.3 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg1.07 | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.306 / Rfactor Rwork: 0.27 |
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