ソフトウェア 名称 バージョン 分類 SOLVE位相決定 CNS1 精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 2.8→19.98 Å / Rfactor Rfree error : 0.006 / Data cutoff high absF : 1784518.12 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.265 1806 10 % RANDOM Rwork 0.229 - - - all 0.208 18148 - - obs 0.229 18148 95.4 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 29.0957 Å2 / ksol : 0.35654 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 27.7 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.33 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 1.65 Å2 0 Å2 3- - - -1.97 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.42 Å 0.35 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.46 Å 0.42 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.8→19.98 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 5334 0 0 86 5420
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.015 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.4 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d24 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.83 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it4.95 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it8.01 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it6.33 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it9.45 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.8→2.97 Å / Rfactor Rfree error : 0.019 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.336 302 9.9 % Rwork 0.298 2762 - obs - - 97.8 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAM
精密化 *PLUS
最高解像度 : 2.8 Å / 最低解像度 : 20 Å / Rfactor all : 0.208 / Rfactor obs : 0.229 / Rfactor Rfree : 0.249 / Rfactor Rwork : 0.208 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.008 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.4 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg23.97 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.83
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.336 / Rfactor Rwork : 0.298