ソフトウェア | 名称 | 分類 |
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DENZO | データ削減 | SCALEPACK | データスケーリング | CNS | 精密化 | CNS | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: フーリエ合成 / 解像度: 1.65→50 Å / Rfactor Rfree error: 0.002 / Data cutoff high absF: 2418252.6 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.21 | 9972 | 10 % | RANDOM |
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Rwork | 0.179 | - | - | - |
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all | 0.179 | 112200 | - | - |
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obs | 0.179 | 99577 | 88.7 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 54.82 Å2 / ksol: 0.369 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 19.2 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 3.19 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -1.2 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -1.98 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.21 Å | 0.17 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.17 Å | 0.15 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.65→50 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 7680 | 0 | 15 | 1025 | 8720 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.01 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d27 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d0.99 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it0.41 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it0.7 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it0.97 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it1.3 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.65→1.75 Å / Rfactor Rfree error: 0.008 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.326 | 1592 | 10.3 % |
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Rwork | 0.295 | 13853 | - |
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obs | - | - | 83.6 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | PARAM_EH.CUTOPOLOGY_EH.CU | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 0.4 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS σ(F): 0 / % reflection Rfree: 10 % / Rfactor Rfree: 0.21 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 19.2 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg27 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg0.99 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it0.41 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it0.97 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it0.7 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it1.3 | 2.5 | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.326 / % reflection Rfree: 10.3 % / Rfactor Rwork: 0.295 |
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