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基本情報
登録情報 | データベース: PDB / ID: 1iua | |||||||||
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タイトル | Ultra-high resolution structure of HiPIP from Thermochromatium tepidum | |||||||||
![]() | High-potential iron-sulfur protein | |||||||||
![]() | ELECTRON TRANSPORT / HiPIP | |||||||||
機能・相同性 | ![]() aerobic electron transport chain / 4 iron, 4 sulfur cluster binding / electron transfer activity / metal ion binding 類似検索 - 分子機能 | |||||||||
生物種 | ![]() | |||||||||
手法 | ![]() ![]() ![]() | |||||||||
![]() | Liu, L. / Nogi, T. / Kobayashi, M. / Nozawa, T. / Miki, K. | |||||||||
![]() | ![]() タイトル: Ultrahigh-resolution structure of high-potential iron-sulfur protein from Thermochromatium tepidum. 著者: Liu, L. / Nogi, T. / Kobayashi, M. / Nozawa, T. / Miki, K. #1: ![]() タイトル: CRYSTAL STRUCTURES OF PHOTOSYNTHETIC REACTION CENTER AND HIGH-POTENTIAL IRON-SULFUR PROTEIN FROM THERMOCHROMATIUM TEPIDUM: THERMOSTABILITY AND ELECTRON TRANSFER 著者: Nogi, T. / Fathir, I. / Kobayashi, M. / Nozawa, T. / Miki, K. #2: ![]() タイトル: CRYSTALLIZATION AND PRELIMINARY CRYSTALLOGRAPHIC ANALYSIS OF HIGH-POTENTIAL IRON-SULFUR PROTEIN FROM THERMOCHROMATIUM TEPIDUM 著者: Nogi, T. / Kobayashi, M. / Nozawa, T. / Miki, K. | |||||||||
履歴 |
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構造の表示
構造ビューア | 分子: ![]() ![]() |
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ダウンロードとリンク
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ダウンロード
PDBx/mmCIF形式 | ![]() | 49.1 KB | 表示 | ![]() |
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PDB形式 | ![]() | 34.4 KB | 表示 | ![]() |
PDBx/mmJSON形式 | ![]() | ツリー表示 | ![]() | |
その他 | ![]() |
-検証レポート
アーカイブディレクトリ | ![]() ![]() | HTTPS FTP |
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-関連構造データ
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リンク
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集合体
登録構造単位 | ![]()
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1 |
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単位格子 |
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要素
#1: タンパク質 | 分子量: 8793.851 Da / 分子数: 1 / 由来タイプ: 天然 由来: (天然) ![]() 参照: UniProt: P80176 | ||||
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#2: 化合物 | #3: 化合物 | ChemComp-SF4 / | #4: 水 | ChemComp-HOH / | |
-実験情報
-実験
実験 | 手法: ![]() |
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試料調製
結晶 | マシュー密度: 1.74 Å3/Da / 溶媒含有率: 29.17 % | ||||||||||||||||||||||||
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結晶化 | 温度: 293.2 K / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 / pH: 3.5 詳細: 0.7M A/S, 0.05M Sodium Citrate, pH 3.5, VAPOR DIFFUSION, SITTING DROP, temperature 293.2K | ||||||||||||||||||||||||
結晶化 | *PLUS 温度: 293 K / pH: 8 | ||||||||||||||||||||||||
溶液の組成 | *PLUS
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-データ収集
回折 | 平均測定温度: 100 K |
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放射光源 | 由来: ![]() ![]() ![]() |
検出器 | タイプ: RIGAKU RAXIS IV / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2000年3月25日 |
放射 | モノクロメーター: undulator / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray |
放射波長 | 波長: 0.7293 Å / 相対比: 1 |
反射 | 解像度: 0.8→50 Å / Num. all: 65310 / Num. obs: 64373 / % possible obs: 98.6 % / Observed criterion σ(F): 2 / Observed criterion σ(I): 2 |
反射 シェル | 解像度: 0.8→0.81 Å / % possible all: 95.5 |
反射 | *PLUS 最低解像度: 5 Å / Num. measured all: 823255 / Rmerge(I) obs: 0.052 |
反射 シェル | *PLUS % possible obs: 95.5 % / Num. unique obs: 3094 / Rmerge(I) obs: 0.397 / Mean I/σ(I) obs: 2.74 |
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解析
ソフトウェア |
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精密化 | 構造決定の手法: ![]()
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 0.8→20 Å
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拘束条件 |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: SHELXL / バージョン: 97 / 分類: refinement | ||||||||||||||||
精密化 | *PLUS 最低解像度: 20 Å / Rfactor Rwork: 0.101 | ||||||||||||||||
溶媒の処理 | *PLUS | ||||||||||||||||
原子変位パラメータ | *PLUS | ||||||||||||||||
拘束条件 | *PLUS
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