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基本情報
登録情報 | データベース: PDB / ID: 1ikk | ||||||||||||||||||
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タイトル | Intrinsic Bending and Deformability at the T-A step of CCTTTAAAGG: A Comparative Analysis of T-A and A-T steps within A-tracts | ||||||||||||||||||
![]() | 5'-D(*![]() DNA / B-DNA double helix / A-tract containing a T-A step | 機能・相同性 | DNA | ![]() 手法 | ![]() ![]() ![]() Mack, D.R. / Chiu, T.K. / Dickerson, R.E. | ![]() ![]() タイトル: Intrinsic bending and deformability at the T-A step of CCTTTAAAGG: a comparative analysis of T-A and A-T steps within A-tracts. 著者: Mack, D.R. / Chiu, T.K. / Dickerson, R.E. 履歴 |
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構造の表示
構造ビューア | 分子: ![]() ![]() |
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ダウンロードとリンク
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ダウンロード
PDBx/mmCIF形式 | ![]() | 24.3 KB | 表示 | ![]() |
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PDB形式 | ![]() | 15.3 KB | 表示 | ![]() |
PDBx/mmJSON形式 | ![]() | ツリー表示 | ![]() | |
その他 | ![]() |
-検証レポート
文書・要旨 | ![]() | 380.1 KB | 表示 | ![]() |
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文書・詳細版 | ![]() | 381.8 KB | 表示 | |
XML形式データ | ![]() | 5 KB | 表示 | |
CIF形式データ | ![]() | 6.5 KB | 表示 | |
アーカイブディレクトリ | ![]() ![]() | HTTPS FTP |
-関連構造データ
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リンク
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集合体
登録構造単位 | ![]()
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1 |
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単位格子 |
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要素
#1: DNA鎖 | 分子量: 3044.016 Da / 分子数: 2 / 由来タイプ: 合成 詳細: It was synthesized on a Eppendorf ECOSYN D300 Synthesizer #2: 化合物 | ChemComp-MG / #3: 水 | ChemComp-HOH / | |
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-実験情報
-実験
実験 | 手法: ![]() |
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試料調製
結晶 | マシュー密度: 1.84 Å3/Da / 溶媒含有率: 33.11 % | ||||||||||||||||||||||||||||||
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結晶化 | 温度: 277 K / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 詳細: Spermine-HCL, Mg(OAc)2, MPD, VAPOR DIFFUSION, SITTING DROP, temperature 277K | ||||||||||||||||||||||||||||||
溶液の組成 |
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結晶化 | *PLUS 温度: 4 ℃ | ||||||||||||||||||||||||||||||
溶液の組成 | *PLUS
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-データ収集
回折 | 平均測定温度: 116 K |
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放射光源 | 由来: ![]() |
検出器 | タイプ: RIGAKU RAXIS IV / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 1997年1月1日 |
放射 | モノクロメーター: Yale mirrors / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray |
放射波長 | 波長: 1.5418 Å / 相対比: 1 |
反射 | 解像度: 1.6→40 Å / Num. all: 6276 / Num. obs: 6263 / % possible obs: 99.2 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 10.5 % / Biso Wilson estimate: 31.9 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.084 / Net I/σ(I): 26.2 |
反射 シェル | 解像度: 1.6→1.72 Å / 冗長度: 8.1 % / Rmerge(I) obs: 0.268 / Mean I/σ(I) obs: 11.2 / % possible all: 98 |
反射 | *PLUS Num. measured all: 65685 |
反射 シェル | *PLUS % possible obs: 98 % / Mean I/σ(I) obs: 11.17 |
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解析
ソフトウェア |
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精密化 | 構造決定の手法: ![]() 開始モデル: NDB entry bdj036 解像度: 1.6→40 Å / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 4 / σ(I): 2
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.6→40 Å
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拘束条件 |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: SHELXL-97 / 分類: refinement | ||||||||||||||||||||
精密化 | *PLUS 最低解像度: 40 Å / σ(F): 4 / Rfactor obs: 0.1794 / Rfactor Rwork: 0.184 | ||||||||||||||||||||
溶媒の処理 | *PLUS | ||||||||||||||||||||
原子変位パラメータ | *PLUS | ||||||||||||||||||||
拘束条件 | *PLUS タイプ: s_angle_d / Dev ideal: 2.32 | ||||||||||||||||||||
LS精密化 シェル | *PLUS 最高解像度: 1.6 Å / 最低解像度: 1.72 Å / Rfactor Rfree: 0.3228 / Rfactor obs: 0.2518 |