ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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MADSYS | | 位相決定 | MLPHARE | | 位相決定 | 直接法 | | モデル構築 | CNS | 1 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング | 直接法 | | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 1.6→22.5 Å / Rfactor Rfree error: 0.006 / Data cutoff high absF: 956397.32 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: engh & huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.233 | 1400 | 7.3 % | RANDOM |
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Rwork | 0.199 | - | - | - |
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obs | - | 19159 | 99.6 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 46.29 Å2 / ksol: 0.362 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 25.1 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -3.39 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -1.57 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 4.96 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.22 Å | 0.18 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.15 Å | 0.11 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.6→22.5 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1137 | 0 | 32 | 189 | 1358 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.013 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.8 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d25.3 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d5.2 | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.6→1.64 Å / Rfactor Rfree error: 0.031 / Total num. of bins used: 15
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.299 | 90 | 7.2 % |
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Rwork | 0.249 | 1156 | - |
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obs | - | - | 99.9 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | ANP_MUTL.PARANP_MUTL.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | WATER_REP.PARAMWATER_REP.TOPX-RAY DIFFRACTION | 4 | ION.PARAMION.TOP | | | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS σ(F): 0 / % reflection Rfree: 7.5 % / Rfactor obs: 0.199 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 25.1 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.8 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg25.3 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg5.2 | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.299 / % reflection Rfree: 7.2 % / Rfactor Rwork: 0.249 |
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