ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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SOLVE | | 位相決定 | CNS | 1 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | CCP4 | (SCALA)データスケーリング | |
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精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.4→19.86 Å / Rfactor Rfree error: 0.007 / Data cutoff high absF: 1733447.74 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.286 | 1886 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.212 | - | - | - |
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obs | 0.212 | 37830 | 93 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 26.17 Å2 / ksol: 0.32 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 32 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -6.74 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 13.61 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -6.87 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.41 Å | 0.29 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.44 Å | 0.26 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.4→19.86 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 7358 | 0 | 0 | 274 | 7632 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.016 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.9 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d24.2 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d1.07 | | | | |
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Refine LS restraints NCS | NCS model details: CONSTRAINED |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.4→2.55 Å / Rfactor Rfree error: 0.02 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.365 | 337 | 5.6 % |
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Rwork | 0.269 | 5733 | - |
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obs | - | - | 91.1 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMWATER_REP.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | ION.PARAMION.TOP | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最低解像度: 25 Å / σ(F): 0 / Num. reflection Rfree: 1887 / % reflection Rfree: 5 % / Rfactor obs: 0.221 / Rfactor Rfree: 0.287 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 32 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.014 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.8 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg24.4 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg1 | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.365 / % reflection Rfree: 5.6 % / Rfactor Rwork: 0.269 |
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