ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHASES | | 位相決定 | CNS | 1 | 精密化 | X-GEN | | データ削減 | X-GEN | | データスケーリング |
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精密化 | 構造決定の手法: 単一同系置換・異常分散 / 解像度: 1.71→8 Å / Rfactor Rfree error: 0.009 / Data cutoff high absF: 481823.14 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.253 | 772 | 5.1 % | EVERY NTH |
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Rwork | 0.202 | - | - | - |
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all | 0.21 | 15223 | - | - |
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obs | 0.202 | 15223 | 94.8 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 74.79 Å2 / ksol: 0.444 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 16.2 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 0.87 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 3.49 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -4.36 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.24 Å | 0.18 Å |
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Luzzati d res low | - | 8 Å |
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Luzzati sigma a | - | -0.1 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.71→8 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1315 | 0 | 10 | 140 | 1465 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.017 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.9 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d26.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d1.2 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.31 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it1.85 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it2.18 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it3.22 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.7→1.78 Å / Rfactor Rfree error: 0.031 / Total num. of bins used: 8
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.261 | 71 | 4.8 % |
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Rwork | 0.242 | 1398 | - |
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obs | - | 1469 | 73 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | PHB.PARAMPHB.TOP | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS σ(F): 0 / % reflection Rfree: 5.1 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 16.2 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.9 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg26.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg1.2 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it | 2.5 | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.261 / % reflection Rfree: 4.8 % / Rfactor Rwork: 0.242 / Rfactor obs: 0.25 |
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