ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS0.9 精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング SHARP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 2.25→29.81 Å / Rfactor Rfree error : 0.005 / Data cutoff high absF : 1255563.21 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 詳細 : THE C-TERMINAL RESIDUE OF MONOMER B WAS NOT SEEN IN THE DENSITY MAPSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.243 2036 5 % RANDOM Rwork 0.222 - - - obs 0.222 41066 97.9 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 43 Å2 / ksol : 0.334225 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 46.9 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 6.13 Å2 15.46 Å2 1.26 Å2 2- - 6.85 Å2 -0.94 Å2 3- - - -12.98 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.35 Å 0.31 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.44 Å 0.35 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.25→29.81 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6861 0 0 388 7249
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.007 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d21.9 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.87 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it0.99 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.73 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it1.97 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.67 2.5
Refine LS restraints NCS Rms dev Biso : 46 Å2 / Rms dev position : 0.204 Å / Weight Biso : 1 / Weight position : 50 LS精密化 シェル 解像度 : 2.25→2.39 Å / Rfactor Rfree error : 0.02 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.356 326 4.8 % Rwork 0.318 6521 - obs - - 97.5 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 SME.PARSME.TOP
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.9 / 分類 : refinement拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg21.9 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.87