プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.49→33.81 Å / Num. obs: 2009 / % possible obs: 98.2 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 3.7 % / Biso Wilson estimate: 21.6 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.05 / Net I/σ(I): 12.8
反射 シェル
解像度: 2.49→2.58 Å / 冗長度: 3.37 % / Rmerge(I) obs: 0.418 / Mean I/σ(I) obs: 3.1 / % possible all: 91.6
反射
*PLUS
Num. measured all: 7532 / Rmerge(I) obs: 0.052
反射 シェル
*PLUS
% possible obs: 91.6 %
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
EPMR
位相決定
X-PLOR
3.851
精密化
d*TREK
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: IDEAL B-DNA 解像度: 2.5→10 Å / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2 詳細: ANISOTROPIC B VALUES WERE APPLIED TO FCALC DURING REFINEMENT IN ORDER TO SCALE FCALC TO FOBS