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-基本情報
登録情報 | データベース: PDB / ID: 1d2t | ||||||
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タイトル | CRYSTAL STRUCTURE OF ACID PHOSPHATASE FROM ESCHERICHIA BLATTAE | ||||||
要素 | ACID PHOSPHATASE | ||||||
キーワード | HYDROLASE / ALL ALPHA | ||||||
機能・相同性 | 機能・相同性情報 | ||||||
生物種 | Escherichia blattae (バクテリア) | ||||||
手法 | X線回折 / シンクロトロン / 解像度: 1.9 Å | ||||||
データ登録者 | Ishikawa, K. / Mihara, Y. / Gondoh, K. / Suzuki, E. / Asano, Y. | ||||||
引用 | ジャーナル: EMBO J. / 年: 2000 タイトル: X-ray structures of a novel acid phosphatase from Escherichia blattae and its complex with the transition-state analog molybdate. 著者: Ishikawa, K. / Mihara, Y. / Gondoh, K. / Suzuki, E. / Asano, Y. | ||||||
履歴 |
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-構造の表示
構造ビューア | 分子: MolmilJmol/JSmol |
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-ダウンロードとリンク
-ダウンロード
PDBx/mmCIF形式 | 1d2t.cif.gz | 56.4 KB | 表示 | PDBx/mmCIF形式 |
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PDB形式 | pdb1d2t.ent.gz | 44.7 KB | 表示 | PDB形式 |
PDBx/mmJSON形式 | 1d2t.json.gz | ツリー表示 | PDBx/mmJSON形式 | |
その他 | その他のダウンロード |
-検証レポート
文書・要旨 | 1d2t_validation.pdf.gz | 427.3 KB | 表示 | wwPDB検証レポート |
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文書・詳細版 | 1d2t_full_validation.pdf.gz | 431.1 KB | 表示 | |
XML形式データ | 1d2t_validation.xml.gz | 13.1 KB | 表示 | |
CIF形式データ | 1d2t_validation.cif.gz | 19.3 KB | 表示 | |
アーカイブディレクトリ | https://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/d2/1d2t ftp://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/d2/1d2t | HTTPS FTP |
-関連構造データ
-リンク
-集合体
登録構造単位 |
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1 |
| x 6||||||||
単位格子 |
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-要素
#1: タンパク質 | 分子量: 25033.098 Da / 分子数: 1 / 断片: ACID PHOSPHATASE / 由来タイプ: 組換発現 由来: (組換発現) Escherichia blattae (バクテリア) 発現宿主: Escherichia coli (大腸菌) / 参照: UniProt: Q9S1A6, acid phosphatase |
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#2: 化合物 | ChemComp-SO4 / |
#3: 水 | ChemComp-HOH / |
-実験情報
-実験
実験 | 手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 2 |
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-試料調製
結晶 | マシュー密度: 4.38 Å3/Da / 溶媒含有率: 71.9 % | |||||||||||||||||||||||||
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結晶化 | 温度: 293 K / 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法 / pH: 8 詳細: PEG400, TRIS, HEPES, pH 8.0, VAPOR DIFFUSION, HANGING DROP, temperature 293.0K | |||||||||||||||||||||||||
結晶化 | *PLUS 温度: 20 ℃詳細: drop contains protein and reservoir solution in a 1:1 ratio | |||||||||||||||||||||||||
溶液の組成 | *PLUS
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-データ収集
回折 | 平均測定温度: 100 K |
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放射光源 | 由来: シンクロトロン / サイト: Photon Factory / ビームライン: BL-6B / 波長: 1 |
検出器 | タイプ: FUJI / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 1998年4月22日 |
放射 | プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray |
放射波長 | 波長: 1 Å / 相対比: 1 |
反射 | 解像度: 1.9→100 Å / Num. all: 35216 / Num. obs: 33066 / % possible obs: 92.7 % / Observed criterion σ(F): 2 / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 4.2 % / Biso Wilson estimate: 28 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.076 / Net I/σ(I): 5.72 |
反射 シェル | 解像度: 1.9→1.95 Å / 冗長度: 3.1 % / Rmerge(I) obs: 0.341 / % possible all: 74.4 |
反射 | *PLUS Num. obs: 34749 / Rmerge(I) obs: 0.074 |
反射 シェル | *PLUS % possible obs: 74.4 % |
-解析
ソフトウェア |
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精密化 | 解像度: 1.9→8 Å / σ(F): 2 / σ(I): 2 / 立体化学のターゲット値: ENGH & HUBER
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.9→8 Å
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拘束条件 |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.851 / 分類: refinement | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
拘束条件 | *PLUS
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