タイプ: SIEMENS-NICOLET X100 / 検出器: AREA DETECTOR / 日付: 1994
放射
モノクロメーター: GRAPHITE(002) / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.4→30.1 Å / Num. obs: 5973 / % possible obs: 91.6 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 2.6 % / Rmerge(I) obs: 0.048 / Net I/σ(I): 19.1
反射
*PLUS
Rmerge(I) obs: 0.084
-
解析
ソフトウェア
名称
分類
PHASES
位相決定
X-PLOR
モデル構築
PROFFT
精密化
X-PLOR
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
X-PLOR
位相決定
精密化
構造決定の手法: SINGLE ISOMORPHOUS REPLACEMENT, 分子置換 解像度: 2.4→8 Å / σ(F): 2 詳細: THE STRUCTURE WAS SOLVED BY COMBINATION OF THE SINGLE ISOMORPHOUS REPLACEMENT AND MOLECULAR REPLACEMENT METHODS.