プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.919 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.7→20 Å / Num. obs: 39479 / % possible obs: 93.1 % / 冗長度: 4.1 % / Biso Wilson estimate: 16 Å2 / Rsym value: 0.045 / Net I/σ(I): 12.4
反射 シェル
解像度: 1.7→1.79 Å / 冗長度: 2.2 % / Mean I/σ(I) obs: 8.1 / Rsym value: 0.078 / % possible all: 83.7
反射
*PLUS
Num. measured all: 276082 / Rmerge(I) obs: 0.045
反射 シェル
*PLUS
% possible obs: 83.7 % / Rmerge(I) obs: 0.078
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
MADSYS
位相決定
SHELX
モデル構築
MLPHARE
位相決定
X-PLOR
3.843
精密化
MOSFLM
データ削減
CCP4
(SCALA)
データスケーリング
SHELX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 1.7→20 Å / Rfactor Rfree error: 0.003 / Data cutoff high absF: 1000000 / Data cutoff low absF: 0.001 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2 詳細: RESIDUES 282 AND 283 WERE NOT SEEN IN THE ELECTRON DENSITY MAPS DUE TO DISORDER
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.202
3806
10 %
RANDOM
Rwork
0.181
-
-
-
obs
-
38017
92.8 %
-
原子変位パラメータ
Biso mean: 17.3 Å2
Refine analyze
Free
Obs
Luzzati coordinate error
0.2 Å
0.17 Å
Luzzati d res low
-
5 Å
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.7→20 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2066
0
10
173
2249
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
X-RAY DIFFRACTION
x_bond_d
0.007
X-RAY DIFFRACTION
x_bond_d_na
X-RAY DIFFRACTION
x_bond_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_d
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_deg
1.258
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_deg_na
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_deg_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_dihedral_angle_d
23.8
X-RAY DIFFRACTION
x_dihedral_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
x_dihedral_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_improper_angle_d
1.18
X-RAY DIFFRACTION
x_improper_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
x_improper_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_mcbond_it
X-RAY DIFFRACTION
x_mcangle_it
X-RAY DIFFRACTION
x_scbond_it
X-RAY DIFFRACTION
x_scangle_it
LS精密化 シェル
解像度: 1.7→1.78 Å / Rfactor Rfree error: 0.013 / Total num. of bins used: 8