ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング | SHAKE-N-BAKE | | モデル構築 | X-PLOR | 3.1 | モデル構築 | X-PLOR | 3.1 | 精密化 | SHAKE-N-BAKE | | 位相決定 | X-PLOR | 3.1 | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: DIRECT METHOD / 解像度: 1.1→6 Å / Rfactor Rfree error: 0.15 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.157 | 351 | 10 % | RANDOM |
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Rwork | 0.147 | - | - | - |
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obs | 0.147 | 3370 | 70 % | - |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 7.5 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.15 Å | 0.15 Å |
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Luzzati d res low | - | 6 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.1→6 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 111 | 0 | 0 | 23 | 134 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.006 | | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.7 | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d22 | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d1.5 | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it1.7 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it1.4 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it1.7 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it1.4 | 2.5 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.1→1.15 Å / Total num. of bins used: 8
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.185 | 18 | 3 % |
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Rwork | 0.239 | 167 | - |
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obs | - | - | 31 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Topol file | Param file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | TOPH19.PEP | X-RAY DIFFRACTION | 2 | | | X-RAY DIFFRACTION | 3 | TOPHCSDX.PROPARHCSDX.PRO | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS Num. reflection all: 4365 / Rfactor all: 0.176 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_deg22 | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_deg1.5 | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor obs: 0.239 |
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