ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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X-PLOR | 3.8 | モデル構築 | X-PLOR | 3.8 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング | X-PLOR | 3.8 | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: MIR X-RAY CRYSTAL / 解像度: 2.3→6 Å / σ(F): 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.32 | - | - |
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Rwork | 0.21 | - | - |
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obs | 0.21 | 4809 | 85.9 % |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.3→6 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1054 | 0 | 0 | 71 | 1125 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.016 | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg3.18 | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d1.34 | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.3→2.34 Å / Total num. of bins used: 20 / | Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.36 | - | 10 % |
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Rwork | 0.38 | 103 | - |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PARHCSDX.PROTOPHCSDX.PROX-RAY DIFFRACTION | 2 | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.8 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_deg1.34 | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor obs: 0.38 |
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