温度: 277 K / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 / pH: 6.4 詳細: 0.1M imidazole, 1-1.4 M sodium acetate anhydrous, pH 6.4, VAPOR DIFFUSION, SITTING DROP, temperature 277K
-
データ収集
放射光源
由来: シンクロトロン / サイト: ALS / ビームライン: 5.0.1
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
相対比: 1
反射
解像度: 1.7→84.82 Å / Num. obs: 45727 / % possible obs: 99.26 %
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
MOLREP
位相決定
REFMAC
5.5.0109
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.7→84.82 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.967 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.956 / SU B: 3.651 / SU ML: 0.054 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.083 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20578
2441
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.17717
-
-
-
obs
0.17858
45727
99.26 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 32.879 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0.86 Å2
0.43 Å2
0 Å2
2-
-
0.86 Å2
0 Å2
3-
-
-
-1.28 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.7→84.82 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2209
0
41
231
2481
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.033
0.021
2315
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
2.341
1.962
3148
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.057
5
274
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
32.678
23.193
119
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
14.18
15
381
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
15.514
15
21
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.2
0.2
333
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.014
0.021
1810
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_other
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_refined
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_other
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.511
1.5
1360
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
2.61
2
2209
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
4.07
3
955
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
6.345
4.5
939
X-RAY DIFFRACTION
r_rigid_bond_restr
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_free
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル
解像度: 1.7→1.742 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.321
150
-
Rwork
0.326
3114
-
obs
-
-
91.28 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 31.2122 Å / Origin y: -27.2004 Å / Origin z: -0.6667 Å