プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.976 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.65→30 Å / Num. obs: 63976 / % possible obs: 99.7 % / 冗長度: 7.3 % / Rmerge(I) obs: 0.068 / Net I/σ(I): 18.2
反射 シェル
解像度: 1.65→1.75 Å / 冗長度: 7.3 % / Rmerge(I) obs: 0.798 / Mean I/σ(I) obs: 3.1 / Num. unique obs: 10189 / % possible all: 99.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0267
精密化
PDB_EXTRACT
データ抽出
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.65→30 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.96 / SU B: 2.966 / SU ML: 0.045 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.082 / ESU R Free: 0.068 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1794
3198
5 %
RANDOM
Rwork
0.15687
-
-
-
obs
0.15799
60770
99.71 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK