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データを開く
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基本情報
登録情報 | データベース: PDB / ID: 9il7 | |||||||||
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タイトル | Crystal Structure of SME E166A in Complex with Ceftaroline Fosamil | |||||||||
![]() | beta-lactamase | |||||||||
![]() | HYDROLASE / 5th Generation Cephalosporin / Carbapenemase / Complex | |||||||||
機能・相同性 | ![]() beta-lactam antibiotic catabolic process / beta-lactamase / beta-lactamase activity / response to antibiotic 類似検索 - 分子機能 | |||||||||
生物種 | ![]() | |||||||||
手法 | ![]() ![]() | |||||||||
![]() | Dhankhar, K. / Hazra, S. | |||||||||
資金援助 | ![]()
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![]() | ![]() タイトル: Crystal Structure of SME E166A in Complex with Ceftaroline Fosamil 著者: Dhankhar, K. / Hazra, S. | |||||||||
履歴 |
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構造の表示
構造ビューア | 分子: ![]() ![]() |
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ダウンロードとリンク
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ダウンロード
PDBx/mmCIF形式 | ![]() | 128.1 KB | 表示 | ![]() |
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PDB形式 | ![]() | 表示 | ![]() | |
PDBx/mmJSON形式 | ![]() | ツリー表示 | ![]() | |
その他 | ![]() |
-検証レポート
文書・要旨 | ![]() | 7.2 MB | 表示 | ![]() |
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文書・詳細版 | ![]() | 7.4 MB | 表示 | |
XML形式データ | ![]() | 29.7 KB | 表示 | |
CIF形式データ | ![]() | 39.1 KB | 表示 | |
アーカイブディレクトリ | ![]() ![]() | HTTPS FTP |
-関連構造データ
類似構造データ | 類似検索 - 機能・相同性 ![]() |
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リンク
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集合体
登録構造単位 | ![]()
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1 |
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単位格子 |
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要素
-タンパク質 , 1種, 2分子 AB
#1: タンパク質 | 分子量: 30345.266 Da / 分子数: 2 / 変異: E166A / 由来タイプ: 組換発現 / 由来: (組換発現) ![]() ![]() ![]() |
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-非ポリマー , 8種, 174分子 












#2: 化合物 | 分子量: 687.709 Da / 分子数: 2 / 由来タイプ: 合成 / 式: C22H24N8O8PS4 / タイプ: SUBJECT OF INVESTIGATION #3: 化合物 | ChemComp-PEG / #4: 化合物 | ChemComp-CL / #5: 化合物 | ChemComp-PO4 / #6: 化合物 | ChemComp-PG4 / | #7: 化合物 | ChemComp-IOD / | #8: 化合物 | ChemComp-NA / | #9: 水 | ChemComp-HOH / | |
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-詳細
研究の焦点であるリガンドがあるか | Y |
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Has protein modification | Y |
-実験情報
-実験
実験 | 手法: ![]() |
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試料調製
結晶 | マシュー密度: 2.02 Å3/Da / 溶媒含有率: 39.14 % |
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結晶化 | 温度: 293 K / 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法 / 詳細: 20% PEG 4000, Lithium Chloride 0.2M |
-データ収集
回折 | 平均測定温度: 100 K / Serial crystal experiment: N |
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放射光源 | 由来: ![]() |
検出器 | タイプ: RIGAKU HyPix-6000HE / 検出器: PIXEL / 日付: 2024年3月19日 |
放射 | プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray |
放射波長 | 波長: 1.54 Å / 相対比: 1 |
反射 | 解像度: 2.4→23.76 Å / Num. obs: 18330 / % possible obs: 99.3 % / 冗長度: 3.8 % / CC1/2: 0.993 / Rpim(I) all: 0.115 / Net I/σ(I): 7.5 |
反射 シェル | 解像度: 2.4→2.49 Å / Num. unique obs: 1867 / CC1/2: 0.92 / Rpim(I) all: 0.167 |
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解析
ソフトウェア |
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精密化 | 構造決定の手法: ![]()
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK BULK SOLVENT | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
原子変位パラメータ | Biso mean: 18.922 Å2
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.4→21.741 Å
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LS精密化 シェル | Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 20
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