ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | (1.19.2_4158: ???)精密化 | autoPX | | data processingautoPX | | データ削減 | PHENIX | | 位相決定 | | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.68→33.42 Å / SU ML: 0.14 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1.99 / 位相誤差: 21.14 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2107 | 2013 | 4.31 % |
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Rwork | 0.1716 | - | - |
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obs | 0.1732 | 46724 | 99.97 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.68→33.42 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2921 | 0 | 22 | 490 | 3433 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.013 | 3011 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d1.172 | 4077 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d6.383 | 410 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.074 | 438 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.009 | 530 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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1.68-1.72 | 0.2125 | 146 | 0.191 | 3233 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.72-1.77 | 0.2187 | 146 | 0.1677 | 3156 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.77-1.82 | 0.2193 | 144 | 0.169 | 3187 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.82-1.88 | 0.2414 | 146 | 0.1717 | 3213 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.88-1.95 | 0.2226 | 130 | 0.18 | 3173 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.95-2.02 | 0.1771 | 152 | 0.1675 | 3218 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.02-2.12 | 0.221 | 147 | 0.1583 | 3175 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.12-2.23 | 0.2019 | 142 | 0.1765 | 3197 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.23-2.37 | 0.2312 | 142 | 0.1763 | 3166 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.37-2.55 | 0.2001 | 139 | 0.1837 | 3245 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.55-2.81 | 0.2338 | 144 | 0.1846 | 3170 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.81-3.21 | 0.242 | 148 | 0.1821 | 3183 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 3.21-4.05 | 0.1656 | 136 | 0.16 | 3218 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 4.05-33.42 | 0.2099 | 151 | 0.1601 | 3177 | X-RAY DIFFRACTION | 100 |
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