温度: 294 K / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 / pH: 4.6 詳細: 100 mM sodium acetate pH 4.6, 1 M NaCl and 25% ethylene glycol
-
データ収集
回折
ID
平均測定温度 (K)
Crystal-ID
Serial crystal experiment
1
80
1
N
2
80
1
N
3
80
1
N
放射光源
由来
サイト
ビームライン
ID
波長 (Å)
シンクロトロン
Diamond
I23
1
4.1328
シンクロトロン
Diamond
I23
2
4.592
シンクロトロン
Diamond
I23
3
5.166
検出器
タイプ
ID
検出器
日付
DECTRIS PILATUS 12M
1
PIXEL
2024年7月31日
DECTRIS PILATUS 12M
2
PIXEL
2024年7月31日
DECTRIS PILATUS 12M
3
PIXEL
2024年7月31日
放射
ID
プロトコル
単色(M)・ラウエ(L)
散乱光タイプ
Wavelength-ID
1
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
1
2
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
2
3
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
3
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
4.1328
1
2
4.592
1
3
5.166
1
反射
Entry-ID: 9GCV / CC1/2: 0.99
解像度 (Å)
Num. obs
% possible obs (%)
冗長度 (%)
Rrim(I) all
Diffraction-ID
Net I/σ(I)
2.7-79
2680
76.8
17.7
0.07
1
62
3-79.6
1980
76.7
17.4
0.08
2
44.4
3.37-79
1421
77.4
17.1
0.09
3
36.1
反射 シェル
解像度 (Å)
Mean I/σ(I) obs
Num. unique obs
CC1/2
Rrim(I) all
Diffraction-ID
% possible all
2.7-2.75
18.9
102
0.99
0.12
1
60.4
3-3.05
21.6
64
0.99
0.082
2
3.37-3.43
36.1
53
0.99
0.072
3
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0430 (refmacat0.4.77)
精密化
DIALS
データ削減
DIALS
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.703→55.884 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.932 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.908 / SU B: 10.845 / SU ML: 0.215 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.417 / 詳細: Hydrogens have not been used
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2171
138
5.188 %
Rwork
0.1876
2522
-
all
0.189
-
-
obs
-
2660
76.305 %
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK BULK SOLVENT
原子変位パラメータ
Biso mean: 19.357 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0.067 Å2
-0 Å2
-0 Å2
2-
-
0.067 Å2
-0 Å2
3-
-
-
-0.134 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.703→55.884 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1001
0
6
19
1026
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.007
0.012
1025
X-RAY DIFFRACTION
r_ext_dist_refined_b
0
0.01
4117
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.76
1.775
1389
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.479
5
128
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
7.242
5
11
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
12.562
10
166
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_6_deg
14.295
10
50
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.12
0.2
144
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.007
0.02
819
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.213
0.2
462
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.301
0.2
717
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.144
0.2
30
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
0.104
0.2
2
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_nbd_refined
0.233
0.2
21
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_xyhbond_nbd_refined
0.074
0.2
9
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.278
1.8
515
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
2.186
3.227
642
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
2.345
2.032
510
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
3.865
3.639
747
X-RAY DIFFRACTION
r_lrange_it
6.291
22.474
4517
LS精密化 シェル
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 20