タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2009年5月13日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.54187 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.18→35.72 Å / Num. obs: 50369 / % possible obs: 95.6 % / 冗長度: 3.8 % / Rmerge(I) obs: 0.107 / Net I/σ(I): 9.3
反射 シェル
解像度: 2.18→2.3 Å / Rmerge(I) obs: 0.455 / Num. unique obs: 1407 / % possible all: 70.1
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0267
精密化
iMOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.203→35.716 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.948 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.912 / 交差検証法: FREE R-VALUE / ESU R: 0.256 / ESU R Free: 0.211 詳細: Hydrogens have been used if present in the input file
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2377
658
4.95 %
Rwork
0.1775
12634
-
all
0.18
-
-
obs
-
13292
98.139 %
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK BULK SOLVENT
原子変位パラメータ
Biso mean: 49.296 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-0.453 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
-0.453 Å2
0 Å2
3-
-
-
0.905 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.203→35.716 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1666
0
78
214
1958
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.012
0.012
1788
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.457
1.707
2419
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.855
5
212
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
32.974
20.833
84
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
15.451
15
294
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
22.067
15
13
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.066
0.2
236
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.021
0.02
1320
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.232
0.2
832
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.311
0.2
1194
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.172
0.2
157
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
0.166
0.2
1
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_nbd_refined
0.235
0.2
29
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_xyhbond_nbd_refined
0.247
0.2
11
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_refined
0.002
0.2
2
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
2.493
4.5
857
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
3.567
6.747
1066
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
3.875
5.144
931
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
6.115
7.502
1353
X-RAY DIFFRACTION
r_lrange_it
8.115
64.22
2754
LS精密化 シェル
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 20