タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2009年3月20日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.54187 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.97→29.67 Å / Num. obs: 588899 / % possible obs: 92.22 % / 冗長度: 10.31 % / Rmerge(I) obs: 0.12 / Net I/σ(I): 6.1598
反射 シェル
解像度: 1.97→2.08 Å / 冗長度: 8.67 % / Rmerge(I) obs: 0.51 / Mean I/σ(I) obs: 1.57 / Num. unique obs: 17031 / % possible all: 71.04
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0267
精密化
iMOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.987→29.663 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.945 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.91 / 交差検証法: FREE R-VALUE / ESU R: 0.168 / ESU R Free: 0.151 詳細: Hydrogens have been used if present in the input file
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2143
907
5.151 %
Rwork
0.174
16702
-
all
0.176
-
-
obs
-
17609
94.216 %
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK BULK SOLVENT
原子変位パラメータ
Biso mean: 28.286 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-0.012 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
-0.012 Å2
0 Å2
3-
-
-
0.023 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.987→29.663 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1662
0
75
211
1948
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.012
0.012
1780
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.551
1.702
2410
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
7.054
5
213
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
30.941
20.833
84
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
14.624
15
290
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
18.784
15
13
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.074
0.2
236
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.015
0.02
1317
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.216
0.2
823
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.317
0.2
1192
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.167
0.2
157
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
0.062
0.2
1
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_nbd_refined
0.215
0.2
31
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_xyhbond_nbd_refined
0.191
0.2
16
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_metal_ion_refined
0.047
0.2
2
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.894
2.4
858
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
2.698
3.59
1069
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
3.235
2.991
922
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
5.091
4.314
1341
X-RAY DIFFRACTION
r_lrange_it
7.074
35.922
2743
LS精密化 シェル
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 20