プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.75→60.79 Å / Num. obs: 349711 / % possible obs: 99.3 % / 冗長度: 6.9 % / CC1/2: 0.998 / Rmerge(I) obs: 0.083 / Net I/σ(I): 10.9
反射 シェル
解像度: 1.75→1.78 Å / 冗長度: 6.6 % / Rmerge(I) obs: 0.491 / Mean I/σ(I) obs: 2.7 / Num. unique obs: 18358 / CC1/2: 0.921 / % possible all: 98.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
DIALS
3.8.0
データ収集
xia2
3.8.0
データ削減
Aimless
0.7.8
データスケーリング
PHENIX
1.20.1
位相決定
PHASER
2.8.3
位相決定
Coot
0.9.8.92
モデル構築
REFMAC
5.8.0425
精密化
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.75→57.98 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.966 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.959 / SU B: 2.539 / SU ML: 0.078 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.107 / ESU R Free: 0.1 / 詳細: Hydrogens have not been used
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.1953
2462
4.86 %
Rwork
0.1706
48194
-
all
0.172
-
-
obs
-
50656
99.166 %
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK BULK SOLVENT
原子変位パラメータ
Biso mean: 20.727 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
3.44 Å2
0 Å2
-1.188 Å2
2-
-
-0.387 Å2
0 Å2
3-
-
-
-0.808 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.75→57.98 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
3605
0
38
291
3934
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.008
0.012
3766
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.695
1.826
5094
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.877
5
447
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
6.079
5
15
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
12.17
10
668
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_6_deg
14.805
10
190
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.119
0.2
541
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.008
0.02
2873
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.201
0.2
1651
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.318
0.2
2565
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.152
0.2
245
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_nbd_refined
0.194
0.2
92
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_xyhbond_nbd_refined
0.149
0.2
15
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.892
1.815
1767
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
2.979
3.254
2209
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
2.883
2.079
1999
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
4.593
3.677
2881
X-RAY DIFFRACTION
r_lrange_it
6.216
23.111
5837
LS精密化 シェル
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 20