ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | (1.17.1_3660: ???)精密化 | xia2 | | データ削減 | xia2 | | データスケーリング | PHASER | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.89→36.43 Å / SU ML: 0.28 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.35 / 位相誤差: 32.75 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2659 | 2004 | 2.65 % |
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Rwork | 0.2209 | - | - |
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obs | 0.2221 | 75708 | 99.47 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.89→36.43 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 7436 | 0 | 66 | 552 | 8054 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.007 | 7701 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d0.792 | 10523 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d8.389 | 1015 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.05 | 1042 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.006 | 1382 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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1.89-1.94 | 0.3684 | 137 | 0.3216 | 5023 | X-RAY DIFFRACTION | 96 | 1.94-1.99 | 0.419 | 138 | 0.3123 | 5164 | X-RAY DIFFRACTION | 98 | 1.99-2.05 | 0.3611 | 143 | 0.3036 | 5198 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 2.05-2.11 | 0.3288 | 139 | 0.2748 | 5213 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.11-2.19 | 0.3585 | 147 | 0.2695 | 5275 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.19-2.28 | 0.3446 | 146 | 0.2624 | 5261 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.28-2.38 | 0.326 | 139 | 0.256 | 5263 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.38-2.51 | 0.3499 | 142 | 0.2603 | 5263 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.51-2.66 | 0.3121 | 141 | 0.2544 | 5263 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.66-2.87 | 0.2944 | 142 | 0.2402 | 5290 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.87-3.16 | 0.2535 | 147 | 0.2274 | 5299 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 3.16-3.61 | 0.2319 | 150 | 0.1942 | 5331 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 3.61-4.55 | 0.1777 | 147 | 0.1578 | 5346 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 4.55-36.43 | 0.2034 | 146 | 0.1743 | 5515 | X-RAY DIFFRACTION | 100 |
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