タイプ: DECTRIS EIGER X 16M / 検出器: PIXEL / 日付: 2022年7月6日 / 詳細: Flat side-deflecting, Rh-coated Si mirror.
放射
モノクロメーター: Liquid nitrogen-cooled double-crystal Si(111) monochromator with a 0.01% energy bandpass プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97946 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.1→34.71 Å / Num. obs: 33411 / % possible obs: 97.6 % / 冗長度: 4.4 % / Biso Wilson estimate: 29.5 Å2 / CC1/2: 0.996 / Rmerge(I) obs: 0.102 / Rpim(I) all: 0.053 / Net I/σ(I): 9.1
反射 シェル
Diffraction-ID: 1
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Mean I/σ(I) obs
Num. unique obs
CC1/2
Rpim(I) all
% possible all
2.1-2.21
4.4
0.687
2.5
4965
0.848
0.355
99.2
2.21-2.35
0.486
3.3
4642
0.903
0.252
2.35-2.51
4.2
4295
0.947
0.182
2.51-2.71
4.5
4048
0.976
0.119
2.71-2.97
4.5
3740
0.985
0.085
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(1.20.1_4487: ???)
精密化
SCALA
v. 3.3.22
データスケーリング
XDS
データ削減
PHASER
v. 2.8.3
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.1→34.71 Å / SU ML: 0.26 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.34 / 位相誤差: 25.95 / 立体化学のターゲット値: ML
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2193
1710
5.12 %
Rwork
0.1885
-
-
obs
0.19
33368
97.07 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.1 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL