ソフトウェア 名称 バージョン 分類 BUSTER2.10.4 (24-FEB-2021) 精密化 autoPROCデータ削減 XSCALEデータスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.702→52.26 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.953 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.936 / SU R Cruickshank DPI : 0.093 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / SU R Blow DPI : 0.1 / SU Rfree Blow DPI : 0.097 / SU Rfree Cruickshank DPI : 0.091 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2457 2784 5 % RANDOM Rwork 0.2242 - - - obs 0.2253 55679 99.9 % -
原子変位パラメータ Biso mean : 43.36 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0 Å2 0 Å2 3- - - 0 Å2
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.31 Å精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.702→52.26 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2238 0 89 337 2664
拘束条件 大きな表を表示 (6 x 18) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal 数 Restraint function Weight X-RAY DIFFRACTION t_bond_d0.008 2369 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_angle_deg0.86 3178 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_dihedral_angle_d833 SINUSOIDAL2 X-RAY DIFFRACTION t_incorr_chiral_ctX-RAY DIFFRACTION t_pseud_angleX-RAY DIFFRACTION t_trig_c_planesX-RAY DIFFRACTION t_gen_planes394 HARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_it2369 HARMONIC10 X-RAY DIFFRACTION t_nbdX-RAY DIFFRACTION t_omega_torsion3.29 X-RAY DIFFRACTION t_other_torsion16.37 X-RAY DIFFRACTION t_improper_torsionX-RAY DIFFRACTION t_chiral_improper_torsion293 SEMIHARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_sum_occupanciesX-RAY DIFFRACTION t_utility_distanceX-RAY DIFFRACTION t_utility_angleX-RAY DIFFRACTION t_utility_torsionX-RAY DIFFRACTION t_ideal_dist_contact2490 SEMIHARMONIC4
LS精密化 シェル 解像度 : 1.702→1.71 ÅRfactor 反射数 %反射 Rfree 0.6297 - 4.94 % Rwork 0.6486 1059 - obs - - 97.1 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : -51.2751 Å / Origin y : -12.968 Å / Origin z : -42.2611 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T 0.0144 Å2 0.0076 Å2 0.0199 Å2 - -0.0107 Å2 -0.0088 Å2 - - -0.0258 Å2 L 0.5633 °2 -0.3118 °2 0.0025 °2 - 0.1741 °2 -0.1115 °2 - - 0.6728 °2 S -0.0153 Å ° -0.0714 Å ° 0.0294 Å ° 0.0004 Å ° 0.037 Å ° -0.0328 Å ° -0.0729 Å ° 0.0264 Å ° -0.0217 Å °
精密化 TLSグループ Selection details : { *|* }