ジャーナル: To Be Published タイトル: High resolution structure of Dehydroascorbate Reductase from Pennisetum Americanum in complex with Acetate in the G-site and Glycerol in the H-site 著者: Khan, W.A. / Das, B.K. / Arulandu, A.
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.8731 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.8→19.85 Å / Num. obs: 26638 / % possible obs: 99.8 % / 冗長度: 6.7 % / CC1/2: 0.997 / Net I/σ(I): 13.4
反射 シェル
解像度: 1.801→1.833 Å / 冗長度: 6.6 % / Mean I/σ(I) obs: 2 / Num. unique obs: 1333 / CC1/2: 0.808 / % possible all: 99.1
-
解析
ソフトウェア
名称
分類
PDB-REDO
精密化
autoPROC
データ削減
autoPROC
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.81→19.24 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.968 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.952 / SU B: 5.252 / SU ML: 0.083 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.11 / ESU R Free: 0.11 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: U VALUES : WITH TLS ADDED HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : RESIDUAL ONLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.21888
1223
4.7 %
RANDOM
Rwork
0.18319
-
-
-
obs
0.18489
24837
99.73 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.1 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 38.734 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-0.26 Å2
-0 Å2
-0 Å2
2-
-
-0.26 Å2
0 Å2
3-
-
-
0.52 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.81→19.24 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1641
0
10
182
1833
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.011
0.017
1710
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.001
0.016
1622
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.39
1.826
2323
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.514
1.567
3802
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.695
5.046
218
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
12.221
10
298
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.067
0.2
261
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.006
0.02
1871
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
313
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
2.574
2.054
850
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
2.556
2.052
849
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
3.326
3.065
1061
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_other
3.329
3.068
1062
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
3.673
2.388
860
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_other
3.677
2.391
861
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_other
5.243
3.429
1260
X-RAY DIFFRACTION
r_long_range_B_refined
7.243
28.903
1965
X-RAY DIFFRACTION
r_long_range_B_other
7.106
26.219
1899
LS精密化 シェル
解像度: 1.815→1.862 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.349
91
-
Rwork
0.273
1778
-
obs
-
-
99.79 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: -14.901 Å / Origin y: 32.02 Å / Origin z: 0.597 Å