ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | 1.15_3459精密化 | PDB_EXTRACT | 4 | データ抽出 | XDS | | データ削減 | XDS | | データスケーリング | PHENIX | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: 5TOS 解像度: 2.1→26.738 Å / SU ML: 0.23 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 位相誤差: 24.48 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2336 | 1947 | 8.38 % |
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Rwork | 0.2035 | - | - |
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obs | 0.2059 | 23235 | 97.36 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.1→26.738 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2214 | 0 | 32 | 80 | 2326 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.007 | 2313 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d0.962 | 3138 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d11.622 | 1359 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.053 | 346 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.005 | 389 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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2.1001-2.1526 | 0.3217 | 125 | 0.2816 | 1423 | X-RAY DIFFRACTION | 92 | 2.1526-2.2107 | 0.3652 | 133 | 0.2656 | 1424 | X-RAY DIFFRACTION | 93 | 2.2107-2.2758 | 0.2482 | 135 | 0.2417 | 1445 | X-RAY DIFFRACTION | 94 | 2.2758-2.3492 | 0.2557 | 135 | 0.2274 | 1459 | X-RAY DIFFRACTION | 96 | 2.3492-2.4331 | 0.2515 | 138 | 0.2064 | 1494 | X-RAY DIFFRACTION | 97 | 2.4331-2.5304 | 0.2358 | 140 | 0.2007 | 1497 | X-RAY DIFFRACTION | 98 | 2.5304-2.6455 | 0.2633 | 133 | 0.1986 | 1538 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 2.6455-2.7848 | 0.2495 | 152 | 0.2088 | 1532 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 2.7848-2.9591 | 0.2716 | 137 | 0.2115 | 1536 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 2.9591-3.1872 | 0.249 | 142 | 0.2196 | 1557 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 3.1872-3.5073 | 0.2486 | 140 | 0.209 | 1552 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 3.5073-4.0134 | 0.2238 | 140 | 0.1879 | 1594 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 4.0134-5.0509 | 0.1863 | 150 | 0.1743 | 1583 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 5.0509-26.73 | 0.2245 | 147 | 0.2093 | 1654 | X-RAY DIFFRACTION | 98 |
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